邊Borderless產(chǎn)品觀查導電粒子

產(chǎn)品說明：使用光源,偏光片<0.09mm(條件待確認),鏡頭前偏光片消除偏光效應(yīng)后,再調(diào)整光路上之干涉相位差

測量顯微鏡工作原理如圖所示，被測工件置于工作臺上，在底光或表面光照明下，它由物鏡成放大像，經(jīng)過分光與反射系統(tǒng)后，一路成像于目鏡分劃板上，人眼通過目鏡可觀察到一個放大的正像；另一路成像于彩色CCD上，攝像機攝取工件像后通過網(wǎng)口傳送至計算機及彩色液晶顯示器上，顯示出一個與工件*同向的放大清晰影像。

我們可以通過目鏡或液晶顯示器對工件像進行瞄準定位，通過數(shù)字測量系統(tǒng)：光柵尺與專業(yè)測量軟件對測量數(shù)據(jù)進行數(shù)據(jù)處理，即光柵尺的信號與計算機主機通訊，供專業(yè)軟件進行測量和數(shù)據(jù)處理。

目視測量系統(tǒng)還可以利用目鏡分劃板上預(yù)先刻制好的標準圖形對工件進行比較測量。

底光照明光源與顯微鏡自帶表面光源，視工件的性質(zhì)兩種照明可分別使用，也可同時使用。