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能量色散X射線熒光光譜技術(shù)的原理和優(yōu)點分析
采用X射線作為樣品信號的激發(fā)源,其產(chǎn)生原級X射線照射到樣品上,所產(chǎn)生的特征X射線(熒光)直接進入固體探測器。
而具有某種能量的X射線強度的大小,與被測樣品中能發(fā)射該能量的熒光X射線的元素含量有直接關(guān)系,測量這些譜線的強度并處理計算,就可以得出元素含量。即為X射線熒光光譜定量分析。
能量色散X射線熒光光譜具有如下優(yōu)點:
①儀器結(jié)構(gòu)簡單,省略了晶體的精密運動裝置,也無需精度調(diào)整。還避免了晶體衍射所造成的強度損失。光源使用的X-射線管功率低,一般在100W以下,不需要昂貴的高壓發(fā)生器和冷卻系統(tǒng),空氣冷卻即可,節(jié)省電力。
②能量色散型熒光光譜儀的光源、樣品、檢測器彼此靠得很近,X-射線的利用率很高,不需要光學(xué)聚集,在累積整個光譜時,對樣品位置變化不象波長色散型熒光光譜儀那樣敏感,對樣品形狀也無特殊要求。
③在能量色散型熒光光譜儀中,樣品發(fā)出的全部特征X-射線光子同時進入檢測器,這就奠定了使用多道分析器和熒光屏同時累積和顯示全部能譜(包括背景)的基礎(chǔ),也能清楚地表明背景和干擾線。因此,半導(dǎo)體檢測器X-射線光譜儀能比晶體X-射線光譜儀快而方便地完成定性分析工作。
④能量色散法的一個附帶優(yōu)點是測量整個分析線脈沖高度分布的積分程度,而不是峰頂強度。因此,減小了化學(xué)狀態(tài)引起的分析線波長的漂移影響。由于同時累積還減小了儀器的漂移影響,提高凈計數(shù)的統(tǒng)計精度,可迅速而方便地用各種方法處理光譜。同時累積觀察和測量所有元素,而不是按特定譜線分析特定元素。因此,見笑了偶然錯誤判斷某元素的可能性。