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產(chǎn)品簡介
菲希爾XDLM系列 X射線熒光鍍層測厚儀，F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY XDLM 系列是應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線鍍層測厚及材料分析儀。這款儀器專門是為測量超薄鍍層和微含量而設(shè)計，是用于質(zhì)量控制，質(zhì)量檢驗和生產(chǎn)監(jiān)控的合適的測量儀器。
詳細介紹
菲希爾XDLM系列 X射線熒光鍍層測厚儀
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 系列是應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線鍍層測厚及材料分析儀。這款儀器專門是為測量超薄鍍層和微含量而設(shè)計，是用于質(zhì)量控制，質(zhì)量檢驗和生產(chǎn)監(jiān)控的合適的測量儀器。
菲希爾XDLM系列 X射線熒光鍍層測厚儀
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 設(shè)計為界面友好的臺式測量儀器系列。根據(jù)不同的預(yù)期用途，有不同的版本。
XDLM 231 型的工作臺為固定式工作臺，馬達驅(qū)動的 Z 軸升降系統(tǒng)。
XDLM 232 型配有可手動操控的 X/Y 工作臺，馬達驅(qū)動的 Z 軸升降系統(tǒng)。
XDLM 237 型則配備了馬達驅(qū)動的 X/Y 工作臺，當(dāng)保護門開啟時，工作臺會自動移到放置樣品的位置。馬達驅(qū)動的可編程 Z 軸升降系統(tǒng)。
XDLM系列儀器帶有4個可切換準(zhǔn)直器，3種可切換的基本濾片，采用比例接收器，測量距離為0-80mm。
使用高分辨率的CCD彩色攝像頭
儀器重量100kg-120kg
儀器使用時溫度范圍10℃-40℃，空氣相對濕度為≤95%，無結(jié)露
計算機要求：帶擴展卡的計算機系統(tǒng)
可按要求，提供額外的XDLM型產(chǎn)品更改和XDLM儀器技術(shù)咨詢