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[供應(yīng)]Ux-720-復(fù)合鍍層用X熒光鍍層測(cè)厚儀
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  • Ux-720-復(fù)合鍍層用X熒光鍍層測(cè)厚儀
貨物所在地:
江蘇蘇州市
更新時(shí)間:
2024-01-22 21:00:05
有效期:
2024年1月22日 -- 2024年7月22日
已獲點(diǎn)擊:
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

復(fù)合鍍層用X熒光鍍層測(cè)厚儀,Ux-720 精密鍍層分析儀是一款無(wú)需標(biāo)樣即可對(duì)金屬鍍層厚度、基材及電鍍層成分分析的高性價(jià)比機(jī)型,軟件*的開放式工作曲線功能,方便用戶無(wú)需自購(gòu)標(biāo)樣建立所需測(cè)試工作區(qū),特別適用于企業(yè)電鍍層種類多、鍍多層及復(fù)合鍍層的制程管控。

詳細(xì)介紹

復(fù)合鍍層用X熒光鍍層測(cè)厚儀應(yīng)用領(lǐng)域

用于電子電器、汽車電子、五金電氣、緊固件以及貴金屬行業(yè)金屬鍍層厚度以及材料成分分析;

用于鋁合金、塑料等輕、非金屬基材表面金屬鍍層厚度檢測(cè);

用于磁鋼鍍NiCuNi、不銹鋼鍍Ni/Cr等重復(fù)鍍層分層厚度及成分檢測(cè);

用于達(dá)克羅涂覆層、太陽(yáng)能薄膜電池涂層分層厚度及成分檢測(cè);

復(fù)合鍍層用X熒光鍍層測(cè)厚儀性能優(yōu)勢(shì)

快速、無(wú)損分析

通過(guò)X射線無(wú)損激發(fā)被測(cè)物元素,經(jīng)探測(cè)器(Si-PIN)采集其熒光強(qiáng)度,軟件只需數(shù)秒即可得到精準(zhǔn)鍍層厚度和成分

復(fù)合鍍層用X熒光鍍層測(cè)厚儀

開放式工作曲線、無(wú)需標(biāo)樣建立曲線

軟件使用基本參數(shù)法(FP法),后臺(tái)功能權(quán)限開放給客戶,用戶可根據(jù)測(cè)試需求無(wú)需標(biāo)樣輕松自建測(cè)試工作區(qū),無(wú)購(gòu)買標(biāo)樣及后續(xù)增加工作區(qū)成本

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