產(chǎn)品簡介
詳細介紹
生物醫(yī)療薄膜納米厚度測量儀
自動化薄膜厚度繪圖系統(tǒng)
依靠F60良好的光譜測量系統(tǒng),可以很簡單快速地獲得薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標(biāo)移動平臺,可以非??焖俚亩ㄎ凰铚y試的點并測試厚度,測試非??焖?,大約每秒能測試兩點。用戶可以自己繪制需要的點位地圖。在約45秒的時間就可以掃描完標(biāo)準(zhǔn)49點分布圖。
為特定的測量要求設(shè)計許多特定功能,例如:自動尋找notch點、自動基準(zhǔn)校正、封閉獨立的測試平臺和 已安裝好軟件的工業(yè)化電腦等。
生物醫(yī)療薄膜納米厚度測量儀
可測樣品膜層
基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系數(shù)的薄膜都可以測量。
例如:
氧化硅 | 氮化硅 | 類金剛石DLC |
光刻膠 | 聚合物 | 聚亞酰胺 |
多晶硅 | 非晶硅 | 硅 |
生物醫(yī)療薄膜納米厚度測量儀
相關(guān)應(yīng)用
液晶顯示器
盒厚/聚酰亞胺/ITO
生物醫(yī)學(xué)
聚對二甲苯/生物膜/硝化纖維
半導(dǎo)體制造
光刻膠/氧化物/氮化物
光學(xué)鍍膜
硬涂層/抗反射涂層/濾光片
免費現(xiàn)場演示/支持
點幾下鼠標(biāo)就可以在網(wǎng)絡(luò)上在線看到現(xiàn)場演示!請聯(lián)系我們,我們的應(yīng)用工程師會在電腦上為您演示薄膜測量是多么容易!