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XAD-金屬鍍層厚度測定儀器
  • XAD-金屬鍍層厚度測定儀器
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貨物所在地:廣東深圳市

更新時間:2024-12-16 08:00:15

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金屬鍍層厚度測定儀器鍍層厚度測試儀
高性價比上照式光譜測厚儀,對各類鍍層厚度分析的同時可對電鍍液進行分析,適用于各種超大件、異形凹槽件、密集型多點測試或自動逐個檢測大量的小部件。鍍層金屬膜厚儀XD系列

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國nei首chuang、全qiu領xian的多導毛細管技術,輕松應對超小測量點薄涂層和極薄涂層的測量分析,在柔性電路板、芯片封裝環(huán)節(jié)、晶圓微區(qū)的鍍層厚度和成分自動測試分析中盡顯優(yōu)勢


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主要利用X射線全反射原理,從X射線管激發(fā)出來的X射線束在毛細玻璃管的內(nèi)壁以全反射的方式進行傳輸,利用毛細玻璃管的彎曲來改變X射線的傳輸方向,從而實現(xiàn)X射線匯聚,同時將X射線的強度增加2~3個數(shù)量級。

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? 在一六儀器du創(chuàng)的高集成光路系統(tǒng)的基礎上,搭配多導毛細管 實現(xiàn)極小面積或極薄鍍層的高速、精確、穩(wěn)定的測量,聚焦直徑可小至10μm

?quan球qian沿的多導毛細聚焦技術,可產(chǎn)生比準直器機構強千倍的信號強度

? 多導毛細管將激發(fā)光束非常高強度的集中在一個的小光斑上,從而顯著縮短測量時間

? 在測量納米級Au厚度或薄膜層厚度及成分時,滿足微小光斑、短測量時間的同時,測量效果接近wan美

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測量精度更高:新開發(fā)的du特的光學器件和全qiu領xian的多導毛細管技術可對超微小區(qū)域及納米級薄層高精度測量

超微小樣品檢測:精確測試最小測量點直徑可達10µm,全球測量微點技術的領xian者

測量效率高:高靈敏度、高解析度X熒光檢測系統(tǒng)搭配多導毛細管技術,測量時間更短,能夠?qū)崿F(xiàn)普通機型幾倍的檢測量

適配性強:適用于各類樣品尺寸的產(chǎn)品線,如600*600mm大型印刷電路板

操作體驗佳:高精細樣品觀察圖像,微區(qū)小至納米級別的分辨率,實現(xiàn)更快速便捷的測試

自動、智能:搭載可編程全自動位移平臺,無人值守、自動檢測樣品同時搭載影像識別功能,自動判定測試位置

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