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宇航志達(dá)試驗裝備（東莞市）有限公司
主營產(chǎn)品： 兩箱式高低溫沖擊箱,高低溫實驗試驗箱,恒定高低溫試驗箱 |
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宇航志達(dá)試驗裝備（東莞市）有限公司
主營產(chǎn)品： 兩箱式高低溫沖擊箱,高低溫實驗試驗箱,恒定高低溫試驗箱 |
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| 參考價 | 面議 |
更新時間：2025-02-12 13:52:10瀏覽次數(shù)：1667
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| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 工作室尺寸（L×W×H） | 2*2*2mm |
|---|---|---|---|
| 換氣率 | 1次/小時 | 價格區(qū)間 | 10萬-20萬 |
| 溫度波動度 | 0.5℃ | 溫度范圍 | -20+80℃ |
| 溫度均勻度 | 1℃ | 最高溫度 | 80 |
PCBA步入式高低溫老化實驗房該設(shè)備適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫交變環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗，是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進行耐寒、耐熱、耐干性試驗及品管工程的可靠性測試設(shè)備，特別適用于光纖、LCD、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫循環(huán)試驗。
PCBA步入式高低溫老化實驗房技術(shù)參數(shù)
設(shè)備滿足以下標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 10586 -2006 濕熱試驗箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫
GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗Cab：恒定濕熱試驗
GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗Db：交變濕熱（12h + 12h循環(huán)）
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則
GJB 150.3A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分：高溫試驗
GJB 150.4A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗
GJB 150.9A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第9部分：濕熱試驗
