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半導體制造技術(shù)中的快速進步依賴敏捷而可靠的氣體分析解決方案。在工廠或?qū)嶒炇抑?，選擇分析質(zhì)譜儀以突破檢測障礙并促使您的過程進入更高層次的創(chuàng)新的模塊化設(shè)計帶來的性能和適應性。利用 增強競爭優(yōu)勢，獲得出眾的測量能力。
產(chǎn)品簡介
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INFICONQMA430分析質(zhì)譜儀 INFICONQMA430分析質(zhì)譜儀 INFICONQMA430分析質(zhì)譜儀
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極快的測量速度:0.125 ms/amu MDPP < 10E-16 mbar 涵蓋整個質(zhì)量范圍的高分辨率:質(zhì)量 1 2 和 3 可在 ppb 范圍內(nèi)明確地分離 超過 10 個不同的離子源和離子光學組合 離散或連續(xù)倍增電極電子倍增器選件 用于正負離子以及中性粒子分析的離子計數(shù)前置放大器 IO 選項:8 個模擬輸入/輸出和 32 個數(shù)字輸入/輸出
公司經(jīng)營品牌：GE druck, GE Panametrics,GE Bently,Wika,HBM,Tektronix,BEAMEX,SIKA,E+E，美國華瑞RAE,梅思安MSA，德爾格Draeger，德國IKA，美國奧豪斯，美國哈希hach,安捷倫等品牌，派克Parker,阿托Atos,力士樂Rexroth,哈威Hawe，德國KK,英國Time Electronics,美國斯坦福,英國密其，德國LR-Cal,德國Schleich,澳大利TPS,德國卡爾德意志等進口品牌