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MENY-K便攜式耐壓測(cè)試儀提供接地電阻、絕緣電阻、交流耐壓、直流耐壓、正常態(tài)接觸電流(動(dòng)態(tài)泄漏)、故障態(tài)接觸電流(靜態(tài)泄漏)、低壓?jiǎn)?dòng)、功率等測(cè)試功能。為提高測(cè)試效率,本系列產(chǎn)品提供接地+交耐、接地+功率、交耐+功率、接地+交耐+功率等多功能聯(lián)合測(cè)試方案。持續(xù)監(jiān)控內(nèi)部功率器件的溫度。內(nèi)部功率器件溫度達(dá)到分析儀保護(hù)限值85℃時(shí),分析儀終止測(cè)試。測(cè)試項(xiàng)項(xiàng)間切換時(shí)間和泄漏電流的電源極性切換時(shí)間均<0.1s。切換時(shí)間包含測(cè)試項(xiàng)的放電保護(hù)等功能保護(hù)時(shí)間。
1 接地電阻
接地電阻項(xiàng)測(cè)試的是接地導(dǎo)通電阻值,是待測(cè)件可接觸金屬部分與地線(xiàn)之間的阻值。主要是待測(cè)件外殼與供電電源接口地線(xiàn)之間的電阻阻值。接地電阻受工裝影響較大。接地測(cè)試的電阻精度,是在4線(xiàn)制接線(xiàn)狀態(tài)下得到計(jì)量結(jié)果。老化的測(cè)試盒和測(cè)試鉗,可能帶來(lái)數(shù)毫歐的測(cè)試誤差。
2 絕緣電阻
絕緣電阻項(xiàng)檢測(cè)的是待測(cè)件可接觸金屬部分與待測(cè)件供電端子間的阻值。主要是待測(cè)件外殼與供電電源接口(L、N)之間的電阻阻值。MENY-K的絕緣電阻在1000V條件下,可以測(cè)量1000G以?xún)?nèi)的電阻,并保證可靠性在15%以?xún)?nèi)。絕緣電阻受測(cè)試工裝影響嚴(yán)重。如果使用分析儀測(cè)試50G以上的絕緣電阻時(shí),必須使用特殊的測(cè)試工裝。對(duì)比拆除工裝前后的絕緣電阻測(cè)試結(jié)果,可以分析工裝的絕緣性能。補(bǔ)償測(cè)試可以削弱工裝對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。但工裝的絕緣性能受環(huán)境影響嚴(yán)重,不是穩(wěn)定的數(shù)值。因此,補(bǔ)償測(cè)試會(huì)影響絕緣電阻測(cè)試精度,其結(jié)果也只在短時(shí)間有效。補(bǔ)償測(cè)試生效時(shí),分析儀在顯示界面的右下角,顯示<已補(bǔ)償>指示。更換測(cè)試組,或重新開(kāi)關(guān)機(jī),清除補(bǔ)償測(cè)試結(jié)果。
絕緣測(cè)試時(shí),分析儀提供漏電保護(hù)功能。絕緣測(cè)試時(shí),分析儀的輸出電流,通過(guò)分析儀的地線(xiàn)或機(jī)殼,而不是回路線(xiàn),回流的電流超過(guò)國(guó)標(biāo)規(guī)定時(shí),分析儀判定存在漏電風(fēng)險(xiǎn),終止測(cè)試。
絕緣測(cè)試后,分析儀對(duì)待測(cè)件做放電保護(hù),以消除遺留電荷。
3 交流耐壓
交流耐壓項(xiàng)檢測(cè)的是待測(cè)件可接觸金屬部分(或外殼)與待測(cè)件供電端子間的交流耐壓性能。主要是在待測(cè)件外殼與供電電源接口之間施加電壓,檢測(cè)其擊穿電流值。
為滿(mǎn)足特殊情況的測(cè)試需求,交流耐壓上限設(shè)定為0時(shí),耐壓功能可以短時(shí)間的過(guò)載輸出,但不提供測(cè)試過(guò)程中的判定。此時(shí),分析儀可以提供峰值不小于200mA,有效值不小于142mA的持續(xù)的耐壓電流輸出。耐壓測(cè)試過(guò)載輸出時(shí),會(huì)造成內(nèi)部功率器件溫度迅速上升。當(dāng)功率器件溫度達(dá)到分析儀保護(hù)限值時(shí),分析儀終止測(cè)試。
分析儀的交流耐壓功能提供0~100.00mA范圍的電弧電流的峰值測(cè)量。電弧上限為0時(shí),電弧判定關(guān)閉。電弧的設(shè)定,請(qǐng)參考分析儀的幫助文檔。
交流耐壓測(cè)試時(shí),同樣提供漏電保護(hù)功能。
交流耐壓測(cè)試后,分析儀對(duì)待測(cè)件做放電保護(hù),以消除遺留電荷。
4 直流耐壓
直流耐壓項(xiàng)檢測(cè)的是待測(cè)件可接觸金屬部分(或外殼)與待測(cè)件供電端子間的直流耐壓性能。主要是在待測(cè)件外殼與供電電源接口之間施加電壓,檢測(cè)其擊穿電流值。
直流耐壓測(cè)試時(shí),提供漏電保護(hù)功能。
直流耐壓測(cè)試后,分析儀對(duì)待測(cè)件做放電保護(hù),以消除遺留電荷。
5 低壓?jiǎn)?dòng)/功率
低壓?jiǎn)?dòng)項(xiàng)檢測(cè)的是供給待測(cè)件比額定電壓值低時(shí)的電性能參數(shù)。電壓值為待測(cè)件額定電壓值的0.85倍。
功率測(cè)試項(xiàng)檢測(cè)的是待測(cè)件正常工作下的電性能參數(shù)。根據(jù)待測(cè)件正常工作時(shí)的電壓值和電流值。
分析儀的低壓?jiǎn)?dòng)測(cè)試和功率測(cè)試技術(shù)指標(biāo)相同。
分析儀的低壓?jiǎn)?dòng)測(cè)試和功率測(cè)試提供短路保護(hù)。低壓?jiǎn)?dòng)測(cè)試和功率測(cè)試開(kāi)始時(shí),如果待測(cè)件短路,分析儀啟動(dòng)短路保護(hù)功能,停止測(cè)試。
分析儀功率測(cè)試項(xiàng)根據(jù)用戶(hù)需求可選擇多檔功率測(cè)試。出廠(chǎng)時(shí)根據(jù)合同約定已經(jīng)預(yù)置。如用戶(hù)未定制此項(xiàng)功能,則“多檔測(cè)試"欄預(yù)置為“關(guān)閉"狀態(tài);即使用戶(hù)自行修改為“供電換擋",此功能仍處于失效狀態(tài),且會(huì)導(dǎo)致正常功率測(cè)試誤判。
6 泄漏電流
泄漏電流(部分標(biāo)準(zhǔn)已經(jīng)將泄漏電流改稱(chēng)接觸電流)項(xiàng)檢測(cè)的是待測(cè)件可接觸金屬部分與待測(cè)件供電端子間(L和N)的泄漏電流。給待測(cè)件供測(cè)試電源,測(cè)試電源電壓值一般為待測(cè)件工作電源的1.06倍,檢測(cè)其電流值。若外加測(cè)試電源電壓值低于50V,測(cè)得的泄漏電流值失去意義。
測(cè)試泄漏電流分兩種工作狀態(tài),動(dòng)態(tài)泄漏(正常態(tài)接觸電流測(cè)試和動(dòng)態(tài)泄漏測(cè)試一致)和靜態(tài)泄漏(故障態(tài)接觸電流測(cè)試和靜態(tài)泄漏測(cè)試一致)。動(dòng)態(tài)即正常工作狀態(tài)下測(cè)得的泄漏電流值,靜態(tài)為待測(cè)件沒(méi)有工作時(shí)測(cè)得的泄漏電流值(零線(xiàn)或火線(xiàn)有一根斷開(kāi))。
測(cè)試時(shí)間設(shè)定超過(guò)1.4s時(shí),泄漏電流測(cè)試過(guò)程中,會(huì)進(jìn)行電源的極性切換。
泄漏電流測(cè)試時(shí),同時(shí)測(cè)量功率電壓和功率電流。
泄漏電流測(cè)試啟動(dòng)時(shí),如果泄漏電流超過(guò)量程,分析器啟動(dòng)泄漏電流過(guò)流保護(hù),終止測(cè)試。
7 聯(lián)合測(cè)試
分析儀提供接地電阻、耐壓、功率的聯(lián)合測(cè)試。聯(lián)合測(cè)試時(shí),多測(cè)試功能同時(shí)測(cè)試,測(cè)試時(shí)間為第一個(gè)測(cè)試項(xiàng)的設(shè)定時(shí)間。測(cè)試項(xiàng)為聯(lián)合測(cè)試項(xiàng)時(shí),測(cè)試項(xiàng)的名稱(chēng)會(huì)增加“+"符號(hào),表示后序項(xiàng)與此項(xiàng)聯(lián)合測(cè)試。聯(lián)合測(cè)試時(shí),測(cè)試功能之間會(huì)互相影響。接地測(cè)試會(huì)增加耐壓測(cè)試小于0.1mA的測(cè)試誤差。其他測(cè)試項(xiàng)目間的影響可以忽略不計(jì)。
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