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微電子超純水應(yīng)用中總有機(jī)碳TOC監(jiān)測(cè)的操作、校準(zhǔn)和自動(dòng)歸零的指導(dǎo)

閱讀:347      發(fā)布時(shí)間:2023-09-07
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  在微電子超純水(UPW)應(yīng)用中,水系統(tǒng)中的總有機(jī)碳(TOC)濃度極低,通常為亞ppb級(jí)。本文介紹如何優(yōu)化微電子超純水應(yīng)用中的在線總有機(jī)碳分析,包括操作步驟指導(dǎo)。Sievers等廠商生產(chǎn)的分析儀,檢測(cè)限均在0.02至0.03 ppb之間。典型的超純水系統(tǒng)的TOC濃度在0.2至0.4 ppb之間,或者說(shuō)僅比分析儀的檢測(cè)限高一個(gè)數(shù)量級(jí)。當(dāng)要測(cè)量的TOC濃度非常接近分析儀的檢測(cè)時(shí),我們可以優(yōu)化分析儀的性能以獲得理想的測(cè)量結(jié)果,但此時(shí)的校準(zhǔn)方法必需有別于測(cè)量高TOC時(shí)所采用的校準(zhǔn)方法。

  硬件選擇

  Sievers專門為微電子應(yīng)用設(shè)計(jì)了兩款TOC分析儀—Sievers*M9e和500 RLe。雖然這兩款分析儀有著相似的低濃度測(cè)量性能,但Sievers M9e使用酸劑和氧化劑,因而能測(cè)量2.5 ppm(2.5 ppm是Sievers 500 RLe的測(cè)量上限)以上的TOC值,還能測(cè)量高IC值,或測(cè)量pH不是中性的水樣。酸劑和氧化劑會(huì)向樣品中引入痕量有機(jī)物,本文稍后介紹對(duì)此的空白校正程序。如果不是特別需要使用酸劑和氧化劑,我們建議您在應(yīng)用中使用Sievers 500 RLe分析儀。

  Sievers 500 RLe有兩種配置可供選擇—“集成在線取樣器(iOS,Integrated On-line Sampler)"和“不銹鋼取樣塊(Stainless Steel Sample Block)"。iOS可以進(jìn)行在線測(cè)量,并能在不切斷樣品連接的情況下將吸樣樣品或參考標(biāo)樣送入分析儀,非常便捷。iOS對(duì)校準(zhǔn)和確認(rèn)校準(zhǔn)特別有用。由于后面提到的原因,對(duì)于測(cè)量低ppb和亞ppb的TOC分析儀來(lái)說(shuō),傳統(tǒng)的校準(zhǔn)意義不大。因此,我們建議在低ppb和亞ppb應(yīng)用中使用配置不銹鋼取樣塊的Sievers 500 RLe。取樣塊不僅能降低儀器成本,而且能形成更適合低ppb和亞ppb應(yīng)用的封閉式取樣系統(tǒng)。

  校準(zhǔn)和自動(dòng)歸零

  影響分析儀校準(zhǔn)的兩個(gè)因素是“增益(gain)"和“偏移(offset)"?!霸鲆?影響校準(zhǔn)曲線的斜率,“偏移"影響校準(zhǔn)曲線通過(guò)零點(diǎn)的位置。這兩種因素對(duì)儀器分析性能的影響力的大小取決于超純水系統(tǒng)的TOC濃度和分析儀的測(cè)量范圍之間的關(guān)系。超純水系統(tǒng)的TOC濃度越接近分析儀的檢測(cè)限(或接近于零),自動(dòng)歸零在優(yōu)化分析儀性能時(shí)所起的作用就越大,而校準(zhǔn)的作用就越?。ㄒ?jiàn)圖1)。

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  可以用低ppb或亞ppb TOC校準(zhǔn)標(biāo)樣來(lái)校準(zhǔn)要測(cè)量的范圍嗎?用于制備校準(zhǔn)標(biāo)樣的樣瓶,即便經(jīng)過(guò)較嚴(yán)格的清潔,認(rèn)證的TOC都僅低于10 ppb,因此無(wú)法用于制備亞ppb校準(zhǔn)標(biāo)樣。此外,樣瓶和校準(zhǔn)標(biāo)樣的制備過(guò)程會(huì)給標(biāo)樣帶來(lái)TOC誤差(通常會(huì)增加幾個(gè)ppb的TOC),因此校準(zhǔn)標(biāo)樣僅在稱重誤差和測(cè)量誤差可以忽略不計(jì)的幾百ppb以上的范圍有效。當(dāng)分析儀在校準(zhǔn)點(diǎn)附近工作時(shí),調(diào)整上述濃度(如1 ppm校準(zhǔn))下的校準(zhǔn)(增益)會(huì)對(duì)報(bào)告結(jié)果的準(zhǔn)確性產(chǎn)生正面影響,但當(dāng)分析儀在低于校準(zhǔn)點(diǎn)幾個(gè)數(shù)量級(jí)的濃度(接近于零)下工作時(shí),調(diào)整校準(zhǔn)就對(duì)報(bào)告結(jié)果的影響非常小。從圖1中可以看出,將校準(zhǔn)曲線移至最壞情況的校準(zhǔn)上限或下限的時(shí)候,對(duì)亞ppb下的儀器響應(yīng)沒(méi)有影響。

  Sievers M9e TOC分析儀試劑空白

  不使用試劑的Sievers 500 RLe專用于測(cè)量亞ppb級(jí)的TOC值。Sievers M9e常用于高TOC應(yīng)用,包括需要添加氧化劑來(lái)測(cè)量ppm級(jí)的TOC應(yīng)用,或需要酸化樣品和去除IC的高濃度無(wú)機(jī)碳的系統(tǒng)監(jiān)測(cè)。在有些應(yīng)用中,樣品的TOC很低,但電導(dǎo)率或IC很高,這時(shí)就需要使用Sievers M9e的功能來(lái)進(jìn)行理想的TOC測(cè)量。超純水應(yīng)用無(wú)需使用氧化劑,本文討論的操作程序只適用于酸劑。Sievers M9e使用電子級(jí)酸劑,但電子級(jí)酸劑也會(huì)向樣品中引入痕量的有機(jī)污染物,這些有機(jī)物對(duì)低濃度讀數(shù)的影響雖小,但仍不可忽視。Sievers M9e(固件1.06及更高版本)帶有自動(dòng)酸劑空白(Reagent Blank)程序,能測(cè)量酸劑實(shí)際產(chǎn)生的有機(jī)污染物的量,并根據(jù)所選流量來(lái)應(yīng)用偏移量,從而將有機(jī)污染物從報(bào)告的TOC值中扣除。各個(gè)酸劑盒所產(chǎn)生的痕量有機(jī)污染物稍有不同,每次在安裝新酸劑盒后,都需要運(yùn)行試劑空白程序。


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