硬件選擇
蘇伊士專門為微電子應(yīng)用設(shè)計了兩款 TOC分析儀— Sievers* M9e 和 500 RLe。雖然這兩款分析儀有著相似的低濃度測量性能,但 Sievers M9e 使用酸劑和氧化劑,因而能測量 2.5 ppm(2.5 ppm 是 Sievers 500 RLe 的測量上限)以上的 TOC 值,還能測量高IC值,或測量 pH 不是中性的水樣。酸劑和氧化劑會向樣品中引入痕量有機物,本文稍后介紹對此的空白校正程序。如果不是特別需要使用酸劑和氧化劑,我們建議您在應(yīng)用中使用 Sievers 500 RLe 分析儀。
Sievers 500 RLe 有兩種配置可供選擇 — “集成在線取樣器(iOS,Integrated On-line Sampler)”和“不銹鋼取樣塊(Stainless Steel Sample Block)”。iOS 可以進行在線測量,并能在不切斷樣品連接的情況下將吸樣樣品或參考標(biāo)樣送入分析儀,非常便捷。iOS 對校準(zhǔn)和確認(rèn)校準(zhǔn)特別有用。
由于后面提到的原因,對于測量低 ppb 和亞 ppb 的 TOC 分析儀來說,傳統(tǒng)的校準(zhǔn)意義不大。因此,我們建議在低 ppb 和亞 ppb 應(yīng)用中使用配置不銹鋼取樣塊的 Sievers 500 RLe。取樣塊不僅能降低儀器成本,而且能形成更適合低 ppb 和亞 ppb 應(yīng)用的封閉式取樣系統(tǒng)。
校準(zhǔn)和自動歸零
影響分析儀校準(zhǔn)的兩個因素是“增益(gain)”和“偏移(offset)”。“增益”影響校準(zhǔn)曲線的斜率,“偏移”影響校準(zhǔn)曲線通過零點的位置。這兩種因素對儀器分析性能的影響力的大小取決于超純水系統(tǒng)的 TOC 濃度和分析儀的測量范圍之間的關(guān)系。超純水系統(tǒng)的 TOC 濃度越接近分析儀的檢測限(或接近于零),自動歸零在優(yōu)化分析儀性能時所起的作用就越大,而校準(zhǔn)的作用就越小(見圖1)。
圖1:TOC 校準(zhǔn)
可以用低 ppb 或亞 ppb TOC 校準(zhǔn)標(biāo)樣來校準(zhǔn)要測量的范圍嗎?用于制備校準(zhǔn)標(biāo)樣的樣瓶,即便經(jīng)過嚴(yán)格的清潔,認(rèn)證的 TOC 都僅低于 10 ppb,因此無法用于制備亞 ppb 校準(zhǔn)標(biāo)樣。此外,樣瓶和校準(zhǔn)標(biāo)樣的制備過程會給標(biāo)樣帶來 TOC 誤差(通常會增加幾個 ppb 的TOC),因此校準(zhǔn)標(biāo)樣僅在稱重誤差和測量誤差可以忽略不計的幾百 ppb 以上的范圍有效。當(dāng)分析儀在校準(zhǔn)點附近工作時,調(diào)整上述濃度(如 1 ppm 校準(zhǔn))下的校準(zhǔn)(增益)會對報告結(jié)果的準(zhǔn)確性產(chǎn)生正面影響,但當(dāng)分析儀在低于校準(zhǔn)點幾個數(shù)量級的濃度(接近于零)下工作時,調(diào)整校準(zhǔn)就對報告結(jié)果的影響非常小。
從圖1中可以看出,將校準(zhǔn)曲線移至較壞情況的校準(zhǔn)上限或下*,對亞 ppb 下的儀器響應(yīng)沒有影響。
TOC自動歸零
在低濃度下,改變零點或“偏移”對儀器性能的影響較大,能保證測量的可靠性,有利于 “儀器到儀器”的一致性(見圖2)。
圖2:TOC 自動歸零
Sievers M9e 和 500 RLe 用自動歸零(Auto-Zero)來確保分析儀在沒有 TOC 的情況下報告為零。分析儀的手冊對自動歸零有詳細(xì)的說明。自動歸零非常有用,能夠幫助優(yōu)化分析儀的低 TOC 測量性能,并有利于達(dá)到“儀器到儀器”的一致性。
Sievers M9e 和 500 RLe 的TOC自動歸零策略
在漂洗新安裝的分析儀或進行維護工作時,分析儀的零點都會受影響。水系統(tǒng)的特性(例如水系統(tǒng)中的無機碳含量)也會對零點產(chǎn)生較小影響。因此,我們建議進行以下自動歸零過程,以保持分析儀的較佳性能:
· 在安裝新分析儀后的漂洗期間,應(yīng)每天運行自動歸零,運行一周左右。在第一周之后到第一個月結(jié)束前,每周運行一次自動歸零。在第一個月之后,每月運行一次自動歸零,并保持此運行頻率,因為預(yù)計以后不會有明顯變化。
·
在進行日常維護(包括更換紫外燈、樣品管、去離子樹脂盒等)之后,應(yīng)漂洗分析儀一整天,然后進行自動歸零。此時無需進行校準(zhǔn)。如果此時進行校準(zhǔn),校準(zhǔn)雖沒有壞處,但也沒有好處,還會延長預(yù)防性維護后(post-PM, post-Preventative Maintenance)的漂洗時間,因為系統(tǒng)需要時間從接觸 PPM 濃度的校準(zhǔn)標(biāo)樣后恢復(fù)過來。在進行初次預(yù)防性維護后的自動歸零之后,可以在一周后重復(fù)運行自動歸零程序,然后恢復(fù)到典型的每月自動歸零常規(guī)操作。
· 如果將分析儀移動到新位置,應(yīng)在讀數(shù)穩(wěn)定后運行自動歸零。與日常維護一樣,可以在一周后再次運行自動歸零,然后恢復(fù)典型的每月自動歸零常規(guī)操作。
· 如果進行了重要的維修工作(即更換主要部件),應(yīng)在維修后進行校準(zhǔn),以確保分析儀的基本性能不變。對于配置了不銹鋼取樣塊的分析儀,可以臨時安裝 iOS 以便進行校準(zhǔn)。Sievers 維修技術(shù)人員都經(jīng)過培訓(xùn),具備執(zhí)行此項服務(wù)的能力。
Sievers M9e 和 500 RLe 分析儀的電導(dǎo)率自動歸零
Sievers M9e 和 500 RLe 也具有電導(dǎo)率自動歸零功能。 TC 和 IC 通道的溫度和電導(dǎo)池只接觸到含有少量 CO2 的去離子水,因而無需針對電導(dǎo)率的增加而進行校準(zhǔn)。隨著時間推移,當(dāng)離子污染物從電導(dǎo)池浸出時,電導(dǎo)池的偏移就會發(fā)生變化。電導(dǎo)率自動歸零校準(zhǔn)任務(wù)能夠調(diào)整 TC 和 IC 池的偏移。
與 TOC 自動歸零不同,電導(dǎo)率自動歸零無需經(jīng)常進行。我們建議在診斷負(fù) TOC 值時運行電導(dǎo)率自動歸零。只可由技術(shù)支持或現(xiàn)場服務(wù)工程師來運行電導(dǎo)率自動歸零。
Sievers M9e TOC 分析儀試劑空白
不使用試劑的 Sievers 500 RLe 于測量亞 ppb 級的 TOC 值。Sievers M9e 常用于高 TOC 應(yīng)用,包括需要添加氧化劑來測量 ppm 級的 TOC 應(yīng)用,或需要酸化樣品和去除 IC 的高濃度無機碳的系統(tǒng)監(jiān)測。在有些應(yīng)用中,樣品的 TOC 很低,但電導(dǎo)率或 IC 很高,這時就需要使用 Sievers M9e 的功能來進行理想的 TOC 測量。
超純水應(yīng)用無需使用氧化劑,本文討論的操作程序只適用于酸劑。Sievers M9e 使用電子級酸劑,但電子級酸劑也會向樣品中引入痕量的有機污染物,這些有機物對低濃度讀數(shù)的影響雖小,但仍不可忽視。Sievers M9e(固件1.06及更高版本)帶有自動酸劑空白(Reagent Blank)程序,能測量酸劑實際產(chǎn)生的有機污染物的量,并根據(jù)所選流量來應(yīng)用偏移量,從而將有機污染物從報告的 TOC 值中扣除。
各個酸劑盒所產(chǎn)生的痕量有機污染物稍有不同,每次在安裝新酸劑盒后,都需要運行試劑空白程序。
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