LS 13 320 XR 激光衍射粒度分析儀

LS 13 320 XR 激光衍射粒度分析儀提升到了一個更高的水平，升級版PIDS技術(shù)、優(yōu)化的132枚檢測器，保證了儀器分辨率更高，結(jié)果更準(zhǔn)確，再現(xiàn)性更好。您不僅可以測量粒徑范圍更寬的顆粒，而且可以更快地檢測到顆粒粒徑間極細(xì)微的差異。PIDS技術(shù)，真正實(shí)現(xiàn)10nm粒徑測量；新型的干、濕進(jìn)樣模塊，“即插即用"，滿足不同的分析要求，靈活便利.

LS 13 320 XR 激光衍射粒度分析儀

LS 13 320 XR 激光衍射粒度分析儀

 

主要特點(diǎn)

• 優(yōu)于ISO 13 320技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)
• 符合FDA的21 CFR Part 11標(biāo)準(zhǔn)
• 檢測器數(shù)量更多，高達(dá)132枚獨(dú)立物理位置檢測器，對應(yīng)高達(dá)136個真實(shí)數(shù)據(jù)通道，能夠清晰區(qū)分不同粒度等級間散射光強(qiáng)譜圖差異，確保不缺漏絲毫信息，快速、準(zhǔn)確的真實(shí)粒度測量。
• 設(shè)計(jì)的“X”型對數(shù)排布檢測器陣列，可以準(zhǔn)確記錄散射光強(qiáng)信號，不管單峰、多峰，準(zhǔn)確分析粒度分布。
• 全自動運(yùn)算分析功能，多峰自動檢測，無需事先猜測峰型，無需選擇分析模型，提供客觀的報(bào)告。
• 升級版PIDS技術(shù)提供創(chuàng)新的高分辨率納米粒度分析功能，真正實(shí)現(xiàn)10nm下限峰值測量。
• PIDS技術(shù)不僅可以直接檢測小至10 nm的顆粒，而且還可以直接檢測納米級的多峰分布。
• 納米分析功能與微米分析功能合二為一，功能強(qiáng)大，真正10nm的測量可使其作為獨(dú)立的高分辨率納米粒度分析儀使用。
• 新一代固體激光光源，無需預(yù)熱，7萬小時(shí)以上開機(jī)使用壽命 。
• 并行式信號采集與傳輸，確保信號保持高信噪比、無時(shí)差、高通量。

 多波長和偏振光分析技術(shù)令粒度分布在寬動態(tài)范圍內(nèi)的準(zhǔn)確性分析獲得高度保障。
• 多種自動化樣品分散系統(tǒng)，“即插即用”，數(shù)秒即可完成切換，高效便利。