德國(guó)MIKROMETRY激光測(cè)徑儀MDL-010
德國(guó)MIKROMETRY
德國(guó)MIKROMETRY 激光測(cè)徑儀MDL-010 產(chǎn)品介紹:
產(chǎn)品型號(hào):MDL-010
產(chǎn)品品牌:德國(guó)MIKROMETRY
產(chǎn)品類別:激光測(cè)徑儀
產(chǎn)品備注:高精度激光測(cè)徑儀
德國(guó)MIKROMETRY 激光測(cè)徑儀MDL-010 產(chǎn)品特點(diǎn):
合并顯示器和主機(jī),采用整體設(shè)計(jì),整體體積小巧,顯示面板的方式可為選擇。
采用激光掃描技術(shù),高精度測(cè)量,*高為0.01μm分辨率。
采用SMD電路、體積小、重量輕、抗干擾強(qiáng)。
儀器具備RS485通訊接口,含自由口通信和MODBUSRUT格式通訊,可與PLC或電腦通訊。
不受外界雜光和煙霧影響測(cè)量穩(wěn)定性。
儀器配置報(bào)警輸出接口,可外接報(bào)警器。
激光測(cè)徑儀測(cè)量原理
由半導(dǎo)體激光器“a”發(fā)出激光束,通過(guò)電機(jī)“c”帶動(dòng)八棱鏡“b”高速旋轉(zhuǎn),將激光器光束掃描通過(guò)棱鏡“d”轉(zhuǎn)換為平行光通過(guò)測(cè)試區(qū)(GATE),當(dāng)測(cè)試區(qū)有被測(cè)物“e”時(shí),其會(huì)遮擋住部份平行光,并通過(guò)聚焦棱鏡“f”在光電接收管上轉(zhuǎn)換成低電平;而沒(méi)有被測(cè)物遮擋的平行光則轉(zhuǎn)換為高電平,通過(guò)計(jì)算低電平的掃描時(shí)間,則可計(jì)算出被測(cè)物在激光束掃描方向的外徑值,寬度值或厚度值。