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[供應]S系列-半導體電性能測試儀
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  • S系列-半導體電性能測試儀
貨物所在地:
湖北武漢市
產(chǎn)地:
湖北武漢
更新時間:
2025-05-14 11:05:59
有效期:
2025年5月14日 -- 2025年8月14日
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產(chǎn)品簡介

半導體電性能測試儀之數(shù)字源表是電學測試的儀器之一,是一種多用途儀器、特別適合現(xiàn)代半導體、納米器件和材料、有機半導體、太陽能電池、印刷電子技術(shù)等領(lǐng)域,

詳細介紹

選擇普賽斯儀表的理由:
1、國產(chǎn)自主研發(fā)
      技術(shù)雄厚,多項磚利,自主可控
2、可定制化方案
      聚焦鮮進器件,提供成熟可落地定制化方案
3、對標進口
      國貨精品,品質(zhì)保障,對標進口產(chǎn)品

 

半導體電性能測試儀之數(shù)字源表是電學測試的儀器之一,是一種多用途儀器、特別適合現(xiàn)代半導體、納米器件和材料、有機半導體、太陽能電池、印刷電子技術(shù)等領(lǐng)域,

源表有一個簡單的定義,就是五表合一(電流源、電壓源、電流表、電壓表、電子負載),也就是源輸出+測量一體化,不同品牌及不同型號的源表都符合這個要求,只是差別在于輸出范圍、測量精度、速度、通道數(shù)不同。

從操作功能上說,源表一般都具備恒流輸出、恒壓輸出、電流掃描、電壓掃描功能,通過基本功能的設(shè)置、組合,源表可以構(gòu)建復雜的測量測試功能。
源表也可搭配其它儀器設(shè)備(開關(guān)系統(tǒng)、皮安表或者拉伸設(shè)備、溫度、磁場控制設(shè)備)組成應用更廣泛的測試系統(tǒng)(例如:霍爾效應測試系統(tǒng))。

S系列源表是普賽斯歷時多年打造的高精度、大動態(tài)范圍、數(shù)字觸摸的*國產(chǎn)化的源表,集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能,最大輸出電壓達300V,最小測試電流達100pA,支持四象限工作,因此能廣泛的應用于各種電氣特性測試中:

以下是源表的典型應用領(lǐng)域:
納米材料與器件
– 石墨烯
– 碳納米管
– 納米線
– 低功耗納米結(jié)構(gòu)

• 半導體結(jié)構(gòu)
– 晶圓
– 薄膜

• 有機材料與器件
– 電子墨水
– 印刷電子技術(shù)

• 能量效率與照明
– LED/AMOLED
– 光伏/太陽電池
– 電池

• 分立器件與無源組件
– 雙引線: 電阻器、二極管、齊納二極管、LED、傳感器

– 三引線: 小信號雙極節(jié)型晶體管(BJT)、場效應晶體管 (FET),等等

• 材料特性分析
–電阻率
–霍爾效應

更多有關(guān)半導體電性能測試儀信息找普賽斯儀表專員為您解答!

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