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中級(jí)會(huì)員 | 第6年

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高溫高濕PID測(cè)試系統(tǒng)技術(shù)參數(shù)

時(shí)間:2023-2-10閱讀:575
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本公司研發(fā)光伏組件測(cè)試系統(tǒng) PID(ZWPID08)根據(jù) IEC 82/685/NP:System voltage durability test for crystalline silicon modules,基本要求是準(zhǔn)備 3 塊組件。其中一塊作為控制組件,組件置于一定 溫度和濕度的環(huán)境中,將組件的內(nèi)部導(dǎo)電體與高壓電源的一個(gè)極連在一起,組件外導(dǎo)電體與高壓電源的另 一極連在一起。一塊組件在正偏壓下進(jìn)行老化,一塊組件在負(fù)偏壓下老化

測(cè)試條件如下:

環(huán)境溫度:60℃±2℃;

環(huán)境濕度:85%±5% RH;

測(cè)試時(shí)間:96 小時(shí);

測(cè)試電壓:在組件需滿足的正系統(tǒng)電壓下或負(fù)系統(tǒng)電壓下。

技術(shù)參數(shù) :

1 高壓電源(正向)

電壓:

? 測(cè)試范圍:0-1500V

? 測(cè)試精度:0.5%FS

? 分辨率:1V

電流:

? 測(cè)試范圍:0-1000uA;

? 測(cè)試精度:0.5%FS

2 高壓電源(負(fù)向)

電壓:

? 測(cè)試范圍:0--1500V;

? 測(cè)試精度:0.5%FS

? 分辨率:1V 電流:

? 測(cè)試范圍:0-1000uA;

? 測(cè)試精度:0.5%FS

? 分辨率: 1uA

? 分辨率: 1uA




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