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| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,冶金,航天,制藥,電氣 |
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產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
US局部放電巡檢儀采用暫態(tài)對地電壓(TEV)測量和超聲波(US)測量兩種方法對開關(guān)柜進(jìn)行故障檢測。
US局部放電巡檢儀功能特點(diǎn)：
體積小，重量輕，攜帶方便，便于現(xiàn)場使用。
采用自動(dòng)增益控制調(diào)節(jié)，抗*力強(qiáng)。
TEV測量采用波形模式、統(tǒng)計(jì)模式（峰值圖、PRPD圖、PRPS圖）、脈沖模式等多種測量方式。
超聲（US）測量采用波形模式、連續(xù)模式、相位模式等多種測量方式。
時(shí)域波形多周波顯示模式，精準(zhǔn)判斷干擾與放電。
軟件提供放電譜圖專家?guī)煲约爸悄茉\斷系統(tǒng)，準(zhǔn)確判斷故障放電類型。
具備數(shù)據(jù)保存功能，可以實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)回放功能。
巡檢數(shù)據(jù)可通過SD卡或者U盤等導(dǎo)出到PC機(jī)中，從而完成用戶報(bào)告的創(chuàng)建。
以TEV傳感器和超聲傳感器（非接觸式）檢測方式為一體。
技術(shù)指標(biāo)
主機(jī) | 可檢測通道數(shù) | 1個(gè)TEV通道，1個(gè)US通道 | |||
參數(shù) | 采樣精度 | 12bit | |||
| 同步方式 | 內(nèi)同步，外同步，光同步 | |||
TEV-II參數(shù) | 檢測帶寬 | 3M-100MHz | US參數(shù) | 中心頻率 | 40kHz |
測量范圍 | 0~60dB | 分辨率 | 0.1uV | ||
測量誤差 | ±1dB | 精度 | ±0.1uV | ||
分辨率 | 1dB | 測量范圍 | 0.5uV～1mV | ||
最小脈沖頻率 | 10Hz | ||||
硬件 | 顯示屏 | 4.3” TFT真彩色液晶顯示屏 ?分辨率 480×272 | |||
存 ?儲(chǔ) | SD卡標(biāo)配16G卡，最大支持32G | ||||
接 ?口 | 耳機(jī)插孔，DC充電器輸入口，LED指示燈，RS232調(diào)試口，USBD同步口，USB2.0，RJ45網(wǎng)口，SD卡插槽 | ||||
電源 | 電池供電（16.8V鋰電池），正常工作時(shí)間約7小時(shí)，充滿時(shí)間約5小時(shí) | ||||
尺寸 | 235mm×133mm×48mm | 重量 | 0.85kg | ||
注意事項(xiàng)：
1. 在試驗(yàn)開始加壓以前，試驗(yàn)人員必須詳細(xì)而全面地檢查一遍線路，以免線路接錯(cuò)。測試儀器處的接地線是否與接地體牢固連接，若連接不牢或在準(zhǔn)備工作時(shí)掐頭去尾線被腳踢斷，這將可能引起人身和設(shè)備事故。
2.對于連接線應(yīng)避免將*暴露在外，防止*電暈放電，尤其對于電壓等級較高的局部放電試驗(yàn)，必要時(shí)要加粗高壓連接線及加裝防電暈罩，減小因場強(qiáng)過高引起的電暈放電。屏蔽罩不能與試品的瓷裙相接觸。
3. 一般情況下，在試驗(yàn)過程中，被試品在耐壓、預(yù)升壓時(shí)局部放電量都比正常值大很多，此時(shí)儀器的儀表必然會(huì)超出滿刻度。為防止儀器損壞，應(yīng)將儀器的增益粗調(diào)旋鈕逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)一檔或更多檔，以不超出滿刻度為標(biāo)準(zhǔn)。當(dāng)電壓降至測量電壓時(shí)，再將增益粗調(diào)開關(guān)順時(shí)針旋轉(zhuǎn)一檔或更多檔，以便記錄測量值。