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日本傷痕?異物檢查用光源 低角度光源/LA-0

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日本傷痕?異物檢查用光源 低角度光源/LA-0

 特征

光線控制 : 平行光。Work Distance 可變化。通過(guò)X-Y 2軸進(jìn)行照明、從而實(shí)現(xiàn)了檢測(cè)感度的提升。大尺寸檢測(cè)物體亦可對(duì)應(yīng)。尺寸可以根據(jù)客戶需求進(jìn)行定制。

用途

向透明被檢物體照射水平方向光、當(dāng)光線遇到表面?zhèn)邸?/span>內(nèi)部異物時(shí),通過(guò)反射光檢測(cè)出來(lái)。微小異物亦可檢測(cè)。z適合于玻璃、鏡片、濾光片等透明物體的外觀異常檢查。

檢出傷痕的原理

下圖是檢出傷痕的原理。下圖是實(shí)際看到的傷痕。
本光源僅僅將被照射的傷痕。
異物等異常所產(chǎn)生的折射、反射,傳達(dá)到眼部,
對(duì)外觀異常的觀察具有明顯效果。
 

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