詳細(xì)介紹
日本napson非接觸式硅錠壽命測(cè)量?jī)xHF-90R
產(chǎn)品特點(diǎn)
- 樣品以JIS Tanzaku形狀進(jìn)行測(cè)量(單晶硅)
- 通過(guò)光電導(dǎo)衰減法進(jìn)行非接觸式測(cè)量
- 通過(guò)示波器和PC進(jìn)行數(shù)據(jù)處理(軟件)
測(cè)量規(guī)格
測(cè)量目標(biāo)
硅錠,硅塊,JIS tanzaku形狀
測(cè)量尺寸
JIS Tanzaku形狀(請(qǐng)聯(lián)系我們)
測(cè)量范圍
約100至5,000μS
(電阻率在10 至5kΩ ·cm的范圍內(nèi))
日本napson非接觸式硅錠壽命測(cè)量?jī)xHF-90R
產(chǎn)品特點(diǎn)
- 樣品以JIS Tanzaku形狀進(jìn)行測(cè)量(單晶硅)
- 通過(guò)光電導(dǎo)衰減法進(jìn)行非接觸式測(cè)量
- 通過(guò)示波器和PC進(jìn)行數(shù)據(jù)處理(軟件)
測(cè)量規(guī)格
測(cè)量目標(biāo)
硅錠,硅塊,JIS tanzaku形狀
測(cè)量尺寸
JIS Tanzaku形狀(請(qǐng)聯(lián)系我們)
測(cè)量范圍
約100至5,000μS
(電阻率在10 至5kΩ ·cm的范圍內(nèi))