詳細介紹
日本napson非接觸式JIS法硅錠壽命測定儀HF-100DCA
產(chǎn)品特點
- 以硅塊,JIS tanzaku形狀和晶錠狀態(tài)(單晶/多晶硅)測量樣品
- 直流方式接觸測量
- 通過示波器和PC進行數(shù)據(jù)處理(軟件)
測量規(guī)格
測量目標
硅錠,硅塊,JIS tanzaku形狀
測量尺寸
硅錠,JIS tanzaku形狀(請聯(lián)系我們)
測量范圍
約50μS至20 mS
日本napson非接觸式JIS法硅錠壽命測定儀HF-100DCA
產(chǎn)品特點
- 以硅塊,JIS tanzaku形狀和晶錠狀態(tài)(單晶/多晶硅)測量樣品
- 直流方式接觸測量
- 通過示波器和PC進行數(shù)據(jù)處理(軟件)
測量規(guī)格
測量目標
硅錠,硅塊,JIS tanzaku形狀
測量尺寸
硅錠,JIS tanzaku形狀(請聯(lián)系我們)
測量范圍
約50μS至20 mS