JY系列抗干擾局部放電檢測(cè)儀采用抗干擾組件和*的門顯示電路,抗干擾性強(qiáng),并具有四種高頻橢圓掃描,適用于高壓產(chǎn)品的型式、出廠試驗(yàn),新產(chǎn)品研制試驗(yàn),電機(jī)、互感器、電纜、套管、電容器、變壓器、避雷器、開關(guān)及其它高壓電器局部放電的定量測(cè)試?？晒┲圃鞆S、科研部門、電力部門現(xiàn)場使用.GH-6209型局部放電測(cè)試儀是根據(jù)IEC(270)標(biāo)準(zhǔn),利用脈沖電流法原理研制而成,并滿足GB-7354-87、GB-1207-97、GB－1208－97中關(guān)于局部放電測(cè)試對(duì)測(cè)試儀器規(guī)定的技術(shù)要求。
    局放測(cè)試儀采用大屏幕示波管，試驗(yàn)波形顯示清晰，有高頻橢圓掃描（攝取功率小于1伏安），放大系統(tǒng)動(dòng)態(tài)范圍大，頻帶組合多（九種），有輔助零標(biāo)系統(tǒng)，有線性、對(duì)數(shù)雙功能指針式表頭和數(shù)字式表頭，可同時(shí)顯示放電脈沖的放電量。

工程原理：
局部放電測(cè)試儀若試品Ｃa在試驗(yàn)電壓下產(chǎn)生局部放電時(shí)，經(jīng)耦合電容Cｋ產(chǎn)生脈沖電流，由輸入單元拾取得脈沖訊號(hào)，經(jīng)低噪聲前置放大、濾波放大器選擇所需頻帶及主放放大后，在示波屏的橢圓掃描基線上顯示出放電脈沖，同時(shí)也送到脈沖峰值表（對(duì)數(shù)表）顯示其峰值。時(shí)間窗單元控制試驗(yàn)電壓每一周期內(nèi)脈沖峰值表的工作時(shí)間，并在這段時(shí)間內(nèi)將顯示屏的顯示加亮，寬度與位置可以改變，進(jìn)一步加強(qiáng)了抗*力。

JY系列抗干擾局部放電檢測(cè)儀產(chǎn)品特點(diǎn)：

1、局部放電測(cè)試儀具有靈敏度高、放大器系統(tǒng)動(dòng)態(tài)范圍大、測(cè)試的試品范圍廣、操作簡便等優(yōu)點(diǎn)

2、檢測(cè)阻抗是拾取檢測(cè)信號(hào)的裝置，在使用中，應(yīng)根據(jù)不同的測(cè)試目的，被試品的種類來選擇合適的檢測(cè)阻抗，以提高局部放電測(cè)量的靈敏度、分辨能力、波形特性及信噪比

3、時(shí)間窗是為防止大于局部放電的干擾信號(hào)進(jìn)入峰值檢波電路而設(shè)計(jì)的一種電路裝置

4、顯示方式：分橢圓，擴(kuò)展，直線三種，并可旋轉(zhuǎn)360°

5、時(shí)基頻率：頻率50、100、150、200、400Hz五檔可選

6、變帶測(cè)量功能：集成化設(shè)計(jì)，覆蓋10kHz~300kHz，符合電工員會(huì)（IEC60270）標(biāo)準(zhǔn)。

使用操作注意事項(xiàng)
1. 在試驗(yàn)開始加壓以前，試驗(yàn)人員必須詳細(xì)而全面地檢查一遍線路，以免線路接錯(cuò)。測(cè)試儀器處的接地線是否與接地體牢固連接，若連接不牢或在準(zhǔn)備工作時(shí)掐頭去尾線被腳踢斷，這將可能引起人身和設(shè)備事故。
2．對(duì)于連接線應(yīng)避免將暴露在外，防止電暈放電，尤其對(duì)于電壓等級(jí)較高的局部放電試驗(yàn)，必要時(shí)要加粗高壓連接線及加裝防電暈罩，減小因場強(qiáng)過高引起的電暈放電。屏蔽罩不能與試品的瓷裙相接觸。
3. 一般情況下，在試驗(yàn)過程中，被試品在耐壓、預(yù)升壓時(shí)局部放電量都比正常值大很多，此時(shí)儀器的儀表必然會(huì)超出滿刻度。為防止儀器損壞，應(yīng)將儀器的增益粗調(diào)旋鈕逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)一檔或更多檔，以不超出滿刻度為標(biāo)準(zhǔn)。當(dāng)電壓降至測(cè)量電壓時(shí)，再將增益粗調(diào)開關(guān)順時(shí)針旋轉(zhuǎn)一檔或更多檔，以便記錄測(cè)量值。
4. 校正電量發(fā)生器校正完畢后，一定要從高壓端脫離，并關(guān)閉電源開關(guān)，且儀器的增益細(xì)調(diào)旋鈕不可再調(diào)。因增益粗調(diào)開關(guān)每相鄰兩檔之間的關(guān)系是十倍，且檔位有指示，故升壓后根據(jù)放電量大小，可選擇合適量程。逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)時(shí)，每降一檔量程擴(kuò)大十倍；反之，順時(shí)針時(shí)，量程縮小十倍。
5. 局部放電測(cè)試儀試驗(yàn)完畢后，應(yīng)對(duì)整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)再進(jìn)行一次復(fù)查校正，驗(yàn)證是否與試驗(yàn)前所校正出的刻度系數(shù)相等，以免測(cè)試儀器或其它環(huán)節(jié)在試驗(yàn)過程中發(fā)生故障而使測(cè)試結(jié)果不對(duì)。