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美國(guó)FLUKE福祿克1550C絕緣電阻測(cè)試儀可提供高達(dá)10 kV測(cè)試電壓的絕緣測(cè)試，因此非常適合用于測(cè)試各種高壓設(shè)備，包括開關(guān)設(shè)備、電機(jī)、發(fā)電機(jī)和電纜。
福祿克絕緣測(cè)試儀是同類儀器中的最佳產(chǎn)品，可覆蓋 IEEE 43-2000 中規(guī)定的絕緣測(cè)試電壓等級(jí)，提供 3 年保修，達(dá)到 CAT IV 600 V 安全等級(jí)。1555 和 1550C 具有測(cè)量存儲(chǔ)器和 PC 接口，可提前發(fā)現(xiàn)設(shè)備的潛在故障。

美國(guó)FLUKE福祿克1550C絕緣電阻測(cè)試儀

功能與優(yōu)點(diǎn)

測(cè)試電壓高達(dá) 10 kV，為各種應(yīng)用提供解決方案
CAT III 1000 V、CAT IV 600 V 安全等級(jí)
警告功能可提醒用戶存在線電壓，可感應(yīng)并給出達(dá)到交流或直流600V的讀數(shù)，提供了用戶使用的安全性
可在 250V - 1000 V 范圍內(nèi)以 50 V 的步長(zhǎng)選擇測(cè)試電壓；1000 V以上則以 100 V 的步長(zhǎng)選擇測(cè)試電壓
可在多達(dá) 99 個(gè)存儲(chǔ)位置存儲(chǔ)測(cè)量值，可為每個(gè)位置的、由用戶定義的標(biāo)簽，便于檢索
配有長(zhǎng)效能電池，在兩次充電間，可進(jìn)行 750 次以上的測(cè)試
自動(dòng)計(jì)算介質(zhì)吸收比 (DAR) 和極化指數(shù) (PI)，無(wú)需其它設(shè)置
防護(hù)系統(tǒng)在高阻抗測(cè)量時(shí)，可消除表面泄漏電流對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響
大型數(shù)字/模擬液晶顯示屏，便于查看讀數(shù)
電容和泄漏電流測(cè)量
提供用于擊穿測(cè)試的斜坡功能
可測(cè)量高達(dá) 2 TΩ 的電阻
為定時(shí)測(cè)試提供長(zhǎng)達(dá) 99 分鐘的定時(shí)器設(shè)置
3 年保修

技術(shù)參數(shù)

絕緣電阻測(cè)量
測(cè)試電壓(直流)	量程(直流)	準(zhǔn)確度(± 讀數(shù))
250V	< 200 kΩ 200 kΩ 至 5 GΩ 5 GΩ 至 50 GΩ > 50 GΩ	未規(guī)定 5% 20% 未規(guī)定
500V	<200 kΩ 200 kΩ 至 10 GΩ 10 GΩ 至 100 GΩ > 100 GΩ	未規(guī)定 5% 20% 未規(guī)定
1000V	< 200 kΩ 200 kΩ 至 20 GΩ 20 GΩ 至 200 GΩ > 200GΩ	未規(guī)定 5% 20% 未規(guī)定
2500V	< 200 kΩ 200 kΩ 至 50 GΩ 50 GΩ 至 500 GΩ > 500 GΩ	未規(guī)定 5% 20% 未規(guī)定
5000V	<200 kΩ 200 kΩ 至 100 GΩ 100 GΩ 至 1 TΩ > 1 TΩ	未規(guī)定 5% 20% 未規(guī)定
10000V (僅限 1555)	<200 kΩ 200 kΩ 至 200 GΩ 10 GΩ 至 2 TΩ > 2TΩ	未規(guī)定 5% 20% 未規(guī)定
條形圖范圍	0 至 1 TΩ
絕緣測(cè)試電壓準(zhǔn)確度	-0 %, +10 %，在 1 mA 負(fù)載電流下
感應(yīng)交流電流抑制	2 mA 最大值
容性負(fù)載充電速率	5s/μF
容性負(fù)載放電速率	1.5s/μF
泄漏電流測(cè)量	范圍: 1 nA 至 2 mA	準(zhǔn)確度: ±(5% + 2 nA)
電容測(cè)量	范圍: 0.01 uF 至 15.00 μF	準(zhǔn)確度: ±(15% 讀數(shù) + 0.03 μF)
定時(shí)器	范圍: 0-99分鐘	分辨率準(zhǔn)確度: 設(shè)置: 1分鐘提示: 1s
帶電電路警告	警告范圍: 30 V 至 660 V ac/dc, 50/60 Hz	電壓準(zhǔn)確度: ±(15% + 2V)

美國(guó)FLUKE福祿克1550C絕緣電阻測(cè)試儀

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