超聲波探傷儀相控陣探頭

奧林巴斯?超聲波探傷儀相控陣探頭2.25L64-I4 5L64-I4

HydroFORM掃查器
優(yōu)勢(shì)特性
● 局部水浸技術(shù)。
● 耦合效果得到優(yōu)化，可以檢測(cè)粗糙的表面。
● 大面積覆蓋。
● 避免了楔塊反射。
● 方便的表面回波同步，用于外壁和內(nèi)壁腐蝕的監(jiān)測(cè)。
典型應(yīng)用
I4探頭
腐蝕成像應(yīng)用
● 可以對(duì)中等大小及大面積區(qū)域進(jìn)行手動(dòng)或自動(dòng)腐蝕檢測(cè)，完
成對(duì)剩余壁厚或內(nèi)部腐蝕材料的測(cè)量

 雙晶線性陣列（DLA）腐蝕探頭
優(yōu)勢(shì)特性
● 一發(fā)一收技術(shù)。
● 減少了表面回波，從而優(yōu)化了表面分辨率。
● 可拆裝式弧面延遲塊。
● 內(nèi)置灌溉。
● 環(huán)部件可調(diào)節(jié)，增強(qiáng)了穩(wěn)定性和耐磨性。
● 與雙晶UT技術(shù)相比， DLA具有更高的探出率、更好的成像效
果、更大的覆蓋范圍，以及增強(qiáng)的數(shù)據(jù)點(diǎn)密度。
典型應(yīng)用
REX 1探頭
● 可以對(duì)較小及中等大小的區(qū)域進(jìn)行手動(dòng)或自動(dòng)檢測(cè)，完成對(duì)
剩余壁厚或內(nèi)部腐蝕材料的測(cè)量。
ULT 1探頭
● 可以對(duì)較小及中等大小的區(qū)域進(jìn)行手動(dòng)檢測(cè)，完成對(duì)表面溫
度高達(dá)150 °C（300 °F）工件的剩余壁厚或內(nèi)部腐蝕區(qū)
域厚度的測(cè)量

 相控陣技術(shù)的介紹
相控陣超聲檢測(cè)區(qū)別于其它技術(shù)的特性是可以通過計(jì)算機(jī)控制對(duì)多晶片探頭中的單個(gè)晶片進(jìn)行激勵(lì)（波幅和延遲）。通過軟件對(duì)多個(gè)壓電復(fù)合材料晶片的激勵(lì)可以生成一條聚焦的超聲聲束，方法是在發(fā)射聲束的過程中動(dòng)態(tài)更改聲束的參數(shù)，如：角度、焦距和焦點(diǎn)大小。要通過相位上的積極干涉生成一條聲束，就要以極小的時(shí)間差，分別觸發(fā)探頭的多個(gè)活動(dòng)晶片。同理，從所期望的焦點(diǎn)反射的回波會(huì)以可以計(jì)算獲得的時(shí)間偏移觸碰到探頭的不同晶片。在將每個(gè)晶片接收到的回波信號(hào)匯總之前，需對(duì)這些回波信號(hào)進(jìn)行時(shí)間偏移計(jì)算。匯總的結(jié)果是生成一個(gè)A掃描，這個(gè)A掃描會(huì)突出顯示來自所需焦點(diǎn)的響應(yīng)信號(hào)，而弱化來自被測(cè)樣件其它部位的信號(hào)。

使用軟件控制聲束角度、焦距和焦點(diǎn)大小

要生成一條超聲聲束，就需要在差別極小的不同時(shí)間對(duì)探
頭的不同晶片進(jìn)行脈沖激勵(lì)。通過控制探頭晶片之間的時(shí)間延遲，可以生成具有不同角度、不同焦距及不同焦點(diǎn)大小的聲束。從所期望的焦點(diǎn)反射的回波會(huì)以可以計(jì)算獲得的時(shí)間偏移觸碰到探頭的不同晶片。在將每個(gè)晶片接收到的回波信號(hào)匯總之前，需對(duì)這些回波信號(hào)進(jìn)行時(shí)間偏移計(jì)算。信號(hào)匯總的結(jié)果是生成一個(gè)A掃描。這個(gè)A掃描會(huì)突出顯示來自所期望焦點(diǎn)的響應(yīng)信號(hào)，而弱化來自材料其它部位的各種回波。

使用以電子方式控制的單個(gè)小巧的多晶探頭可以完成多角度檢測(cè)

常規(guī)UT檢測(cè)需要使用多種不同的探頭。而一個(gè)單個(gè)相控陣（PA）探頭則可以根據(jù)應(yīng)用的要求進(jìn)行配置，以序列方式產(chǎn)生不同的角度和焦點(diǎn)。
 無需移動(dòng)部件而完成高速掃查
雖然相控陣技術(shù)要對(duì)來自多晶片探頭的許多信號(hào)進(jìn)行處理，但是我們要知道：其所得到的信號(hào)是一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的射頻（RF）信號(hào)（或A掃描），這個(gè)信號(hào)與任何使用固定角度探頭的常規(guī)系統(tǒng)得到的信號(hào)相同。這個(gè)信號(hào)與來自常規(guī)UT系統(tǒng)的任何A掃描一樣，可被評(píng)估、處理、過濾并生成圖像。基于A掃描創(chuàng)建的B掃描、 C掃描和D掃描，也與常規(guī)系統(tǒng)生成的這類圖像一樣。它們之間的區(qū)別在于相控陣系統(tǒng)可以使用單個(gè)探頭完成多角度檢測(cè)。多路傳輸還可以在探頭不動(dòng)的情況下完成掃查：聚焦聲束
由一個(gè)裝有許多晶片的長(zhǎng)相控陣探頭的幾個(gè)晶片創(chuàng)建。然后聲束被移動(dòng)（或稱多路傳輸）到其它晶片，以在不移動(dòng)探頭的情況下，沿掃查軸方向?qū)ぜM(jìn)行高速掃查。這樣探頭就可以不同的檢測(cè)角度進(jìn)行一次以上的掃查。這個(gè)原理可被應(yīng)用到使用線性相控陣探頭進(jìn)行的平面工件檢測(cè)，也可被應(yīng)用到使用圓形相控陣探頭進(jìn)行的管材和棒材檢測(cè) 。

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