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集多種優(yōu)點于一身的U-SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀
隨著人類活動對環(huán)境影響的加劇，顆粒物群體逐漸龐大，威脅著生態(tài)環(huán)境和人們的健康。不管是常見的灰蒙蒙的天空，還是不時出現的霧霾天氣，其本質正是由無處不在的顆粒污染物造成的。無論是室內還是室外，空氣質量的評估、治理和改善工作需要可靠的儀器加持。
由Palas 研發(fā)的U-SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀，集納米測量、操作靈活便捷、監(jiān)測結果精準等諸多優(yōu)點于一身，適用于多種研究場景，可以有效測量和評估空氣污染程度。
由Palas 研發(fā)的U-SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀，集納米測量、操作靈活便捷、監(jiān)測結果精準等諸多優(yōu)點于一身，適用于多種研究場景，可以有效測量和評估空氣污染程度。
Palas U-SMPS體現了高尺寸分辨率（120通道/十倍粒徑）的優(yōu)勢，通過使用系統(tǒng)軟件PDAnalyze，一鍵自動保存數據無需外部數據記錄系統(tǒng)和無需額外同步設備時間，使顆粒物水平的變化清晰可見。同時可以自動合并粒徑分布圖，得到直觀的數據結果。
顆粒物監(jiān)測專家Palas的納米設備擁有業(yè)內先進的測量技術，市面上單純的光學監(jiān)測只能測量到大于120nm以上的顆粒，而U-SMPS組合尺寸分布為4nm至40,000nm。Palas U-SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀可靠的監(jiān)測結果可與校準中心（TROPOS，萊比錫）媲美。儀器結合了準確可靠的粒徑分析和計數功能，可提供靈活監(jiān)測設備。Palas智能解決方案和緊密的客戶關系為傳統(tǒng)粒徑分析市場打開大門。