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掃描電遷移率粒徑譜儀的測量原理與優(yōu)勢介紹
掃描電遷移率粒徑譜儀采用納米顆粒測量系統(tǒng)，可以提供穩(wěn)定的粒徑分析和計(jì)數(shù)功能的同時(shí)，原始通道高達(dá)256個(gè)，能夠?qū)崿F(xiàn)高粒徑分辨率。多組合符合不同濃度、粒徑分布范圍的氣溶膠分析需求，優(yōu)點(diǎn)多。例如，它可靈活搭載預(yù)處理裝置，且其操作界面為桌面式設(shè)計(jì)，簡便易學(xué)。憑借其開放式數(shù)據(jù)文件，可讀取和分析數(shù)據(jù)，實(shí)現(xiàn)自檢測和校準(zhǔn)。此外，它具備的靈活性和兼容性，可以與市場主流計(jì)數(shù)器兼容。
掃描電遷移率粒徑譜儀的測量原理：
差分電遷移器對顆粒物進(jìn)行分類，噴嘴將粗的顆粒去除，減少大顆粒的干擾；同時(shí)建議前置個(gè)靜電中和器，消除對電荷對氣溶膠顆粒的影響。頂端入口U型設(shè)計(jì)，可減少顆粒損失；頂端層流器，使氣流呈層流狀態(tài)流動(dòng)。潔凈干燥的保護(hù)鞘氣與氣溶膠氣流一起自上而下流動(dòng)。DMA的外套筒接地，中心極桿接正壓高壓發(fā)生器。
環(huán)境顆粒中帶負(fù)電荷的顆粒將在外套筒與中心極桿之間的電場中發(fā)生遷移。在某一電壓下（對應(yīng)一定的電場強(qiáng)度），具有一定荷質(zhì)比的負(fù)電顆粒將遷移至DMA下端狹縫而逸出，其余荷質(zhì)比及其電中性、正電荷顆粒將隨過剩氣流被過濾排出。經(jīng)由狹縫逸出的顆粒為單分散氣溶膠顆粒，進(jìn)入法拉利杯對顆粒物進(jìn)行計(jì)數(shù)。
掃描電遷移率粒徑譜儀的優(yōu)勢：
高分辨率數(shù)據(jù)：高達(dá)384個(gè)通道；
快速測量：<15秒掃描；
濃度范圍廣；
模塊化組件設(shè)計(jì)，更大限度地提高靈活性；
觸摸屏控制，獨(dú)立操作（不需要電腦）；
輕松設(shè)置，無需工具安裝和自動(dòng)檢測組件；
離散粒子測量：適用于多模式樣品；
粒徑測量與粒子和流體的光學(xué)特性無關(guān)；
廣泛的系統(tǒng)選擇：可選擇水或丁醇CPC；選擇傳統(tǒng)或非放射性中和器。