HEIDENHAIN直線光柵尺： 其實起到的作用是對刀具和工件的坐標起一個檢測的作用,在數(shù)控機床中常用來觀察其是否走刀有誤差,以起到一個補償?shù)毒叩倪\動的誤差的補償作用.其實就象人眼睛看到我切割偏沒偏的作用.然后可以給手起到一個是否要調(diào)整我是否要改變用力的標準，相當(dāng)于眼睛.增量測量法 增量測量法的磁柵由周期性柵線組成。

通 過計算自某點開始的增量數(shù)（測量步距 數(shù)）獲得位置信息。由于必須用參考 點確定位置值，因此測量基準的光柵尺上 還有一個參考點刻軌。在光柵尺上，由參 考點確定的位置是在一個信號周期分 配的。因此，必須通過掃描參考點建立絕 對基準點或確定上次選擇的原點。

海德漢光柵尺在不理想的情況下，可能需要運動機床 測量范圍的相當(dāng)大部分。為加快和簡化 “參考點回零”操作，許多海德漢尺帶距 離編碼參考點，這些參考點之間彼此相距 數(shù)學(xué)算法確定的距離。因此只需運動數(shù)毫 米，一旦移過兩個相鄰參考點后，后續(xù)電 子電路就能找到參考點位置（見下 表）。距離編碼參考點的光柵尺在型號后 均帶字母“C”（例如LIF 181C）。 對于距離編碼參考點，參考點B的位 置用兩個參考點間步距數(shù)和以下公式計 算：

HEIDENHAIN直線光柵尺光電掃描 海德漢的大多數(shù)光柵尺采用光電掃描原 理。光電掃描在工作中無接觸，因此無磨 損。光電掃描可以檢測到非常細小的光 柵，柵線寬度可僅數(shù)微米，并能輸出非常 細小的信號周期信號。 測量基準的柵距越小，光電掃描的衍射現(xiàn) 象越嚴重。

海德漢直線光柵尺采用兩種掃 描原理：

• 成像掃描原理用于10 µm至200 µm的柵 距。

• 干涉掃描原理用于柵距4 µm甚至更小柵 距的光柵。 成像掃描原理 簡單地說成像掃描原理是用透射光生成信 號：兩個柵距相同或相近的光柵與掃描掩 膜彼此相對運動。

掃描掩膜的基體為透明 色，而作為測量基準的光柵材料可為透明 材料也可以為反光材料。 當(dāng)平行光穿過光柵時，以特定的間隔形成 明暗的光影區(qū)。在該處設(shè)有柵距相同或相 近的掃描光柵。當(dāng)兩個光柵相對運動時， 入射光被調(diào)制：在狹縫對齊時，光線通 過。

HEIDENHAIN光柵尺如果一個光柵的刻線與另一個光柵的 狹縫對齊，光線無法通過。光電池將這些 光強變化轉(zhuǎn)化成電信號。特殊結(jié)構(gòu)的掃描 掩膜將光強調(diào)制為近正弦輸出信號。光柵 條紋的柵距越小，掃描掩膜與光柵尺間的 間距越小，公差越嚴。對于成像掃描原理 的光柵尺，10 μm或更大柵距的光柵尺可 滿足實用的安裝公差要求。 LIC和LIDA系列直線光柵尺為成像掃描原 理。

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