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HDHL-100A回路電阻測(cè)試儀工作原理與注意

閱讀:215        發(fā)布時(shí)間:2023-5-4

6回路手動(dòng)22.jpg

1、回路電阻測(cè)試儀的工作原理

回路電阻測(cè)試儀的設(shè)計(jì)采用了高可靠性的大功率集成電路,由直流恒流源、前置放大器、A/D轉(zhuǎn)換器、指示裝置等部分組成,如圖1所示,是具有毫歐、微歐量程的低值電阻測(cè)量?jī)x,操作簡(jiǎn)單,可一鍵測(cè)量回路電阻、導(dǎo)線電阻、線圈的電阻等,且測(cè)試電流能自動(dòng)穩(wěn)流,保證了測(cè)試數(shù)據(jù)的穩(wěn)定可靠。

圖1 回路電阻測(cè)試儀結(jié)構(gòu)原理示意圖

回路電阻測(cè)試儀在測(cè)量時(shí),由高頻開關(guān)電源輸出100A或更大的電流,施加于被測(cè)電阻的兩個(gè)端鈕之間,通過采樣電路采集電流流過被測(cè)電阻所產(chǎn)生壓降的模擬信號(hào),經(jīng)前置放大器放大后,由A/D轉(zhuǎn)換器將模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào),再經(jīng)微處理器對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行濾波、運(yùn)算、處理,根據(jù)串聯(lián)電路電流處處相等的原理,通過歐姆定律R=U/I,由負(fù)載兩端的壓降U和回路中的電流I之比得出被測(cè)體的直流電阻值,如圖2所示。

圖2 回路電阻測(cè)試儀工作原理示意

回路電阻測(cè)試儀試驗(yàn)接線圖:

儀器接線:如圖所示,將專用測(cè)試線按照顏色紅對(duì)紅,黑對(duì)黑,粗的電流線接到對(duì)應(yīng)的I+、I-接線柱扭緊,細(xì)的電源線插入到V+、V-的插座內(nèi),兩把夾鉗夾住被測(cè)試品的兩端。

回路電阻測(cè)試儀適用于測(cè)試高低壓開關(guān)的主觸頭接觸電阻值,高低壓電纜線路的直流電阻值等。測(cè)試電流采用國家標(biāo)準(zhǔn)GB763推薦的100A直流,可在 100A,200A,300A,400A,500A或600A電流的情況下直接測(cè)得回路電阻或者接觸電阻,并直接顯示,還可保存到儀器上,最大組數(shù)為 100組,保存的數(shù)據(jù)可通過RS232接口與上位機(jī)通訊,將數(shù)據(jù)上傳至電腦保存或打印。該儀器測(cè)量準(zhǔn)確、性能穩(wěn)定,適合電力、供電部門現(xiàn)場(chǎng)高壓開關(guān)維修和高壓開關(guān)廠回路電阻測(cè)試的要求。

1、電壓接線回路開路或接觸不良(接線開路時(shí)可視接觸電阻無窮大),測(cè)試周圍有較強(qiáng)的電磁干擾時(shí),如母線帶電,此時(shí)帶電母線通過以空氣為介質(zhì)的電容,干擾測(cè)試儀的兩條電壓測(cè)試線,由于干擾的作用使回路測(cè)試儀電壓采集線兩端出現(xiàn)差模電壓。

假如外界干擾較大,會(huì)使回路電阻測(cè)試儀顯示出比被試品電阻值大的多的數(shù)值,此時(shí)如果測(cè)試人員有足夠的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試經(jīng)驗(yàn)也許能夠判斷出測(cè)試結(jié)果的異常,并解決這一問題,能夠引起注意并最終得到正確測(cè)試結(jié)果。但如果測(cè)試人員沒有足夠的經(jīng)驗(yàn)可能會(huì)誤判開關(guān)回路電阻值超標(biāo),可能會(huì)采用停電檢修的方法處理缺陷,給日后的電力生產(chǎn)造成不必要的損失。

如果干擾的強(qiáng)度不是很大,儀器顯示值正好在斷路器的合格阻值范圍之內(nèi),該情形與情況“電壓回路接觸不良"產(chǎn)生的結(jié)果相同,同樣會(huì)造成誤判。

2、電壓接線回路開路,打開回路電阻測(cè)試儀,測(cè)試現(xiàn)場(chǎng)沒有強(qiáng)電場(chǎng)干擾,武漢中試高測(cè)這種情況下,由于放大器輸入的差模電壓基本不存在,故儀器顯示的測(cè)試參數(shù)接近為0,如果測(cè)試人員有足夠的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試經(jīng)驗(yàn),可以判斷出是儀器電壓回路測(cè)試線異常,將儀器電壓回路測(cè)試線異常排除后,可以得出最終正確測(cè)試結(jié)果;反之,有可能會(huì)誤判測(cè)試儀出現(xiàn)問題,中斷測(cè)試,更換或返修儀器,延誤停電時(shí)間,給測(cè)試工作帶來不必要的麻煩。

3、電壓回路接線接觸不良,大多數(shù)情況下斷路器的接線端子在長(zhǎng)期運(yùn)行后端子排外表面會(huì)產(chǎn)生氧化膜或油膜,當(dāng)回路電阻測(cè)試儀的電壓測(cè)試鉗夾接到這樣的端子排上時(shí)就可能產(chǎn)生接觸不良,既電壓測(cè)試線鉗夾本身也要產(chǎn)生一定的接觸電阻,該接觸電阻值達(dá)到與電壓采樣回路的內(nèi)阻值相當(dāng)時(shí),將對(duì)測(cè)試結(jié)果產(chǎn)生嚴(yán)重影響。


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