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目錄:上海波銘科學(xué)儀器有限公司>>光譜系統(tǒng)>>顯微缺陷膜厚>> 分光輻射照度測量系統(tǒng)

分光輻射照度測量系統(tǒng)
  • 分光輻射照度測量系統(tǒng)
參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 品牌 OTSUKA/日本大塚
  • 型號
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 上海市
屬性

>

更新時間:2025-01-23 11:34:03瀏覽次數(shù):295評價

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該檢測器 是一種高性能的分光光度計 ,在光源測量、反射/透射測量、過程測量等 方面取得 了 多項成果 。 覆蓋從紫外線到可見光和可見光到紅外線的寬波長范圍

產(chǎn)品信息

特殊長度

該檢測器
是一種高性能的分光光度計,在光源測量、反射/透射測量、過程測量等方面取得了多項成果。

覆蓋從紫外線到可見光和可見光到紅外線的寬波長范圍

帶軟件的樣品照明電源,測量儀器批量控制
LIV測量,脈沖點測量,樣品溫控測量

設(shè)備校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)燈由我們自己的部門提供,并由 JCSS 校準(zhǔn)公司注冊。

 

評價項目

照度、輻照度

光譜數(shù)據(jù)(光譜輻照度)

其他測量項目
三刺激值 XYZ、色度坐標(biāo) xy、uv、
u’v’相關(guān)色溫、Duv、主波長、刺激純度 顯
色指數(shù) Ra、R1 至 R15
峰值波長、半寬
光子通量密度 PFD、光合光子磁通密度PPFD

設(shè)備構(gòu)成

    單點型

分光輻射照度測量系統(tǒng)

半導(dǎo)體晶圓的面內(nèi)分布測量

玻璃基板的面內(nèi)分布測量

 

        多點型

分光輻射照度測量系統(tǒng)

實時測量

流向品質(zhì)管理

真空室適用

 

        導(dǎo)線型

分光輻射照度測量系統(tǒng)

實時測量

寬度方向品質(zhì)管理

測量案例

   超硬涂層的膜厚解析

分光輻射照度測量系統(tǒng)

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