在光學(xué)測(cè)量的浩瀚領(lǐng)域，一款較突出的儀器正掀起一場(chǎng)革新風(fēng)暴，它就是 WPA - 200 相位差測(cè)試儀。
WPA - 200 相位差測(cè)試儀宛如一座光學(xué)測(cè)量的智慧燈塔。它采用先進(jìn)的光子晶體技術(shù)，為高精度測(cè)量奠定了堅(jiān)實(shí)基礎(chǔ)。測(cè)量速度之快令人驚嘆，僅需 3 秒，即可完成一次測(cè)量，極大地提高了工作效率，讓您無(wú)需漫長(zhǎng)等待，快速獲取關(guān)鍵數(shù)據(jù)。
其測(cè)量范圍廣泛，可達(dá) 0 - 3500nm（可拓展至 10000nm），幾乎涵蓋了常見(jiàn)光學(xué)材料和元件的測(cè)量需求。而且，測(cè)量精度堪稱，重復(fù)精度小于 1nm（西格瑪），無(wú)論是在光學(xué)零件的精細(xì)檢測(cè)，還是對(duì)透明成型品的質(zhì)量把控中，都能精準(zhǔn)無(wú)誤地呈現(xiàn)相位差信息。
這款測(cè)試儀的數(shù)據(jù)呈現(xiàn)方式D具匠心，以二維分布圖像的形式將測(cè)量數(shù)據(jù)可視化。這不僅使您可以直觀地讀取數(shù)據(jù)，更能通過(guò)多種分析功能，如點(diǎn)、線、面、3D 的分析，深入探究樣品的相位差分布細(xì)節(jié)。這就像為您配備了一個(gè)光學(xué)顯微鏡，讓材料內(nèi)部的奧秘清晰地展現(xiàn)在眼前。
在應(yīng)用領(lǐng)域，WPA - 200 相位差測(cè)試儀更是展現(xiàn)出其強(qiáng)大的適應(yīng)性。在光學(xué)零件檢測(cè)方面，對(duì)于鏡片、薄膜、導(dǎo)光板等，它能精準(zhǔn)檢測(cè)相位差，確保產(chǎn)品質(zhì)量，保障光學(xué)性能的優(yōu)秀。在透明成型品檢測(cè)中，無(wú)論是車載透明零件還是食用品容器，都能被它敏銳洞察，及時(shí)發(fā)現(xiàn)應(yīng)力等因素引起的相位差變化，保障使用安全。在透明樹(shù)脂材料、透明基板以及有機(jī)材料研究領(lǐng)域，它也是的得力助手，助力科研人員深入了解材料特性，推動(dòng)科研此外，WPA - 200 不含旋轉(zhuǎn)光學(xué)濾片的機(jī)構(gòu)，這一設(shè)計(jì)減少了儀器的維護(hù)成本和難度，讓儀器更加穩(wěn)定可靠，如同一位忠實(shí)的伙伴，始終陪伴您在光學(xué)測(cè)量的道路上前行。
無(wú)論是光學(xué)研究機(jī)構(gòu)、生產(chǎn)制造企業(yè)，還是質(zhì)量檢測(cè)部門，WPA - 200 相位差測(cè)試儀都將成為您開(kāi)啟光學(xué)測(cè)量新紀(jì)元的關(guān)鍵鑰匙，引的導(dǎo)您在光學(xué)領(lǐng)域探索更多未知，創(chuàng)造更多可能。
