AR/VR智能眼鏡應(yīng)力分布測(cè)量?jī)x 透明光學(xué)鏡片相位差測(cè)試儀

一、應(yīng)力分布測(cè)量?jī)x

1. Trioptics ImageMaster® VR/AR 系列

• 技術(shù)特性：

• 專為 VR/AR 光學(xué)元件設(shè)計(jì)，支持波導(dǎo)片、微透鏡陣列等復(fù)雜結(jié)構(gòu)的全場(chǎng)應(yīng)力分析。

• 集成多波長(zhǎng)同步測(cè)量模塊（380-1600nm），可識(shí)別材料內(nèi)部應(yīng)力雙折射分布，精度達(dá) 0.1nm/cm。

• 搭載 AI 算法自動(dòng)識(shí)別應(yīng)力異常區(qū)域，指導(dǎo)注塑工藝優(yōu)化，提升鏡片良品率。

• 應(yīng)用場(chǎng)景：

• 檢測(cè) Pancake 折疊光路中的多層偏振反射膜應(yīng)力累積，優(yōu)化像差補(bǔ)償方案。

• 分析自由曲面鏡片因模壓成型導(dǎo)致的應(yīng)力不均勻問(wèn)題，確保波前誤差控制在 λ/10 以內(nèi)。

• 供應(yīng)商：德國(guó) Trioptics，中國(guó)區(qū)由至純光電（深圳寶安）代理。

2. Photonic Lattice PA 系列

• 技術(shù)特性：

• 采用 500 萬(wàn)像素高分辨率 CCD，支持亞納米級(jí)相位差分辨率（0.001nm），可穿透多層膜結(jié)構(gòu)直接測(cè)量應(yīng)力雙折射。

• 配置近紅外波長(zhǎng)（850nm），適用于 LIDAR 汽車組件、硫系玻璃等透明材料的應(yīng)力分布測(cè)試。

• 提供三維應(yīng)力云圖與動(dòng)態(tài)實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)，支持樹脂鏡片注塑過(guò)程中的應(yīng)力演變分析。

• 應(yīng)用場(chǎng)景：

• 檢測(cè) AR 光波導(dǎo)片的納米級(jí)涂層雙折射分布，確保光學(xué)性能一致性。

• 分析 VR 鏡片在 - 40℃至 85℃環(huán)境下的應(yīng)力穩(wěn)定性，滿足車載顯示等嚴(yán)苛場(chǎng)景需求。

• 供應(yīng)商：日本 Photonic Lattice，中國(guó)區(qū)由田野儀器（深圳寶安）代理。

二、相位差測(cè)試儀

1. Zygo Verifire MST 干涉儀

• 技術(shù)特性：

• 基于波長(zhǎng)位移技術(shù)（Wavelength-Shifting），可同時(shí)測(cè)量多層表面的相位延遲與厚度變化（TTV），精度達(dá) 0.1nm RMS。

• 配備環(huán)境模擬艙，可測(cè)試不同溫濕度條件下光學(xué)膜的相位穩(wěn)定性，支持車載顯示復(fù)合膜的可靠性評(píng)估。

• 提供波前誤差分析功能，用于校準(zhǔn)光場(chǎng) VR 系統(tǒng)的微透鏡陣列波前相位，景深重建精度達(dá) 0.1D。

• 應(yīng)用場(chǎng)景：

• 測(cè)量 AR 波導(dǎo)片的三維折射率分布，指導(dǎo)光學(xué)元件設(shè)計(jì)優(yōu)化。

• 檢測(cè) VR 鏡片注塑過(guò)程中的應(yīng)力誘導(dǎo)相位差，通過(guò) Stoney 公式修正工藝參數(shù)。

• 供應(yīng)商：美國(guó) Zygo，中國(guó)區(qū)由北京歐波同代理。

2. Konicaminolta CA-410 系列

• 技術(shù)特性：

• 采用穆勒矩陣橢偏技術(shù)，可解析納米級(jí)涂層的雙折射特性，支持 380-1600nm 寬光譜相位差測(cè)量。

• 集成高精度軸向角度測(cè)量模塊，可分析量子點(diǎn)膜、偏振分光膜的取向偏差，提升色域準(zhǔn)確性。

• 提供自動(dòng)化數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，兼容工業(yè)產(chǎn)線的快速檢測(cè)需求，重復(fù)精度 < 1nm（σ）。

• 應(yīng)用場(chǎng)景：

• 檢測(cè) OLED 圓偏光片中 λ/4 相位差膜的延遲量均勻性，確保顯示對(duì)比度。

• 評(píng)估 AR 光波導(dǎo)片的光程差分布，優(yōu)化全息衍射效率。

• 供應(yīng)商：日本柯尼卡美能達(dá)，深圳本地可通過(guò)至純光電獲取技術(shù)支持。

三、檢測(cè)方案整合

1. 復(fù)合膜檢測(cè)流程

• 步驟 1：使用**Trioptics ImageMaster®**進(jìn)行應(yīng)力分布初篩，識(shí)別應(yīng)力集中區(qū)域。

• 步驟 2：通過(guò)Zygo Verifire MST測(cè)量對(duì)應(yīng)區(qū)域的相位延遲，結(jié)合 Stoney 公式計(jì)算應(yīng)力值。

• 步驟 3：利用Photonic Lattice PA 系列進(jìn)行亞納米級(jí)相位差驗(yàn)證，確保數(shù)據(jù)可溯源。

2. 產(chǎn)線自動(dòng)化方案

• 硬件集成：Optikos LensCheck™ 與 Trioptics ImageMaster® 可通過(guò)機(jī)器人實(shí)現(xiàn)晶圓級(jí)波導(dǎo)片的全自動(dòng)檢測(cè)，支持 256 個(gè)微區(qū)同步分析。

• 軟件協(xié)同：TrueTest 軟件平臺(tái)整合多設(shè)備數(shù)據(jù)，生成包含應(yīng)力分布、相位差、MTF 等參數(shù)的綜合報(bào)告，指導(dǎo)工藝參數(shù)調(diào)整。

四、供應(yīng)商與技術(shù)支持

1. 深圳本地資源：

• 田野儀器（深圳市寶安）：代理 Trioptics、Photonic Lattice 等品牌，提供設(shè)備安裝、校準(zhǔn)及定制化測(cè)試夾具。

• 精測(cè)電子：AR/VR 亮度色度檢測(cè)系統(tǒng)可與應(yīng)力 / 相位差數(shù)據(jù)聯(lián)動(dòng)，評(píng)估光學(xué)元件綜合性能。

2. 
   

五、技術(shù)參數(shù)對(duì)比

六、選型建議

• 研發(fā)場(chǎng)景：優(yōu)先選擇Zygo Verifire MST + **Trioptics ImageMaster®**的組合，滿足高精度分析與復(fù)雜結(jié)構(gòu)檢測(cè)需求。

• 量產(chǎn)場(chǎng)景：推薦Photonic Lattice PA 系列 + Optikos LensCheck™，兼顧速度與精度，支持 24 小時(shí)連續(xù)運(yùn)行。

• 特殊需求：若需檢測(cè)透明樹脂（如 COC/COP）的應(yīng)力雙折射，WPA-200 大尺寸薄膜測(cè)試儀（日本 Orihara）可提供 3500nm 寬范圍測(cè)量。