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鹽城探傷機 超聲波探傷檢測條件的選擇因素

閱讀:930        發(fā)布時間:2021-11-10

鹽城探傷機 超聲波探傷檢測條件的選擇因素受一下條件的影響:

1.探頭選擇:

頻率:雙晶直探頭為5MHZ,單晶直探頭為2MHZ~5MHZ,對晶粒粗大鍛件可適當降低頻率,可用1~2.5MHZ。

晶片尺寸:Ф14~25mm,常用Ф20mm

雙晶直探頭——檢測近表面缺陷。探頭晶片面積不小于150mm2。

斜探頭——晶片面積為140mm2~400mm2,頻率為2.5MHZ。探測與表面垂直缺陷宜用K1(45°),必要時用60°~70°相當于K2。

2.表面要求與耦合劑:

表面要求:檢測面表面要求平整,經(jīng)機加工,表面粗糙度Ra應小于6.3μm,□工件表面應去除氧化皮、污物等附著物。

耦合劑:機油、漿糊、甘油等。

3.掃查方式:

——互相垂直兩個方向

100%掃查

直探頭

雙晶直探頭

斜探頭:周向、軸向各正、反二個方向。

掃查復蓋面積探頭直徑尺寸15%。

掃查速度≤150mm/s。

4.材質(zhì)衰減測定

在鍛件上選定三處有代表性部位(完好部位)無損檢測資源網(wǎng)測出次底波B1和第二次底波B2的波高分界值。

這里X≥3N,為單程聲程(厚度或直徑)

這里X<3N,且滿足

5.試塊

①縱波直探頭:□JB/T4730-2005標準規(guī)定CSⅠ型標準試塊。

②雙晶直探頭試塊:JB/T4730-2005標準規(guī)定CSⅡ型標準試塊。

適用距離為深度小于45mm。

③探測曲面工件時,應使用曲面試塊,曲面試塊為JB/T4730-2005標準規(guī)定的CSⅢ型試塊曲率R與工件曲率關(guān)系為:

JB/T4730-2005規(guī)定試塊曲率半徑R為工件曲率半徑的0.9~1.5倍。

GB/T6420-91標準規(guī)定工件曲率半徑為試塊曲率半徑R的0.7~1.1倍。

6.探傷時機:

熱處理后,槽、孔、臺階等機加工前。

如熱處理前檢驗(對鍛件形狀不合適熱處理后檢驗的),則在熱處理后仍要再進行檢測。

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