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XRF分析測(cè)厚儀在金屬薄膜鍍層厚度和成分分析的應(yīng)用

閱讀:1055      發(fā)布時(shí)間:2022-10-11
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X射線測(cè)厚儀EDX8000B---金屬薄膜鍍層厚度和成分分析


EDX8000B鍍層測(cè)厚儀應(yīng)用于金屬電鍍鍍層分析領(lǐng)域

技術(shù)指標(biāo)

多鍍層分析,1~5層;

測(cè)試精度:0.001 μm;

元素分析范圍從鋁(Al)到鈾(U);

測(cè)量時(shí)間:10~30秒;

SDD探測(cè)器,能量分辨率為125±5eV;

探測(cè)器Be窗0.5mil(12.7μm);

微焦X射線管50kV/1mA,銠靶;

8個(gè)準(zhǔn)直器及多個(gè)濾光片自動(dòng)切換;

高清CCD攝像頭(500萬(wàn)像素),準(zhǔn)確監(jiān)控位置;

多變量非線性去卷積曲線擬合;

高性能FP無(wú)標(biāo)樣分析軟件;

測(cè)厚儀,專業(yè)表面處理檢測(cè)解決方案:EDX8000BX射線測(cè)厚儀,專用于檢測(cè)各種異形件,特別是五金類模具、衛(wèi)浴產(chǎn)品、線路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析。


xrf光譜圖


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