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| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,地礦,電子,交通 |
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| 供電電源： | AC220V±10% 50/60Hz |
（以下簡稱電阻率測試儀）是用來測量半導(dǎo)體材料（主要是硅單晶、鍺單晶、硅片）電阻率，以及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電薄膜、導(dǎo)電橡膠方塊電阻的測量儀器。它主要由電氣測量部份（簡稱：主機(jī)）、測試架及四探針頭組成。
產(chǎn)品分類品牌分類
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產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
XNC-KY1型四探針電阻率測試儀
（以下簡稱電阻率測試儀）是用來測量半導(dǎo)體材料（主要是硅單晶、鍺單晶、硅片）電阻率，以及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電薄膜、導(dǎo)電橡膠方塊電阻的測量儀器。它主要由電氣測量部份（簡稱：主機(jī)）、測試架及四探針頭組成。
本儀器的特點是主機(jī)配置雙數(shù)字表，在測量電阻率的同時，另一塊數(shù)字表（以萬分之幾的精度）適時監(jiān)測全程的電流變化，免除了測量電流/測量電阻率的轉(zhuǎn)換，更及時掌控測量電流。主機(jī)還提供精度為0.05%的恒流源，使測量電流高度穩(wěn)定。本機(jī)配有恒流源開關(guān)，在測量某些薄層材料時，可免除探針尖與被測材料之間接觸火花的發(fā)生，更好地保護(hù)箔膜。儀器配置了本公司的產(chǎn)品：“小游移四探針頭"，探針游移率在0.1～0.2%。保證了儀器測量電阻率的重復(fù)性和準(zhǔn)確度。本機(jī)可加配KDY測量系統(tǒng)，測量硅片時可自動進(jìn)行厚度、直徑、探針間距的修正，并計算出硅片電阻率、徑向電阻率的最大百分變化、平均百分變化、徑向電阻率不均勻度，給測量帶來很大方便。
XNC-KY1型四探針電阻率測試儀主機(jī)技術(shù)能數(shù)
（1）測量范圍：
可測電阻率：0.0001～19000Ω•cm
可測方塊電阻：0.001～190000Ω/□
（2）恒流源：
輸出電流：DC 0.001～100mA 五檔連續(xù)可調(diào)
量程：0.001～0.01mA、0.01～0.10mA、0.10～1.0mA、1.0～10mA、10～100mA
恒流精度：各檔均低于±0.05%
（3）直流數(shù)字電壓表：
測量范圍：0～199.99mV
靈敏度：10μV
基本誤差：±（0.004%讀數(shù)+0.01%滿度）
輸入阻抗：≥1000MΩ
（4）測量精度：電器精度：1－1000歐姆≤0.3%
整機(jī)測量精度：1－1000歐姆•厘米≤3%
（5）供電電源：
AC220V±10% 50/60Hz 功率：12W
（6）使用環(huán)境：溫度：23±2℃ 相對濕度：≤65%
無較強(qiáng)的電場干擾，電源隔離濾波，無強(qiáng)光直接照射
（7）重量、體積：
主機(jī)重量：7.5kg
體積：365×380×160（單位：mm 長度×寬度×高度）
該儀器可選配KDY四探針測試系統(tǒng)連接計算機(jī)軟件進(jìn)行測量，測試結(jié)果更加精確、簡便，測量數(shù)據(jù)自動保存，可進(jìn)行導(dǎo)出excel等操作，便于保存數(shù)據(jù)。