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當(dāng)前位置:常州凌肯自動(dòng)化科技有限公司>>儀器儀表維修>> ??怂箍礖EXAGON測(cè)量投影儀維修報(bào)警故障代碼
參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)
品 牌DAOHAN/島韓
廠商性質(zhì)其他
所 在 地常州市
更新時(shí)間:2024-03-23 17:06:14瀏覽次數(shù):1822次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來(lái)自 化工儀器網(wǎng)如洋royal PT影像測(cè)量?jī)x維修1小時(shí)上門(mén)
leitz zeiss3次元影像測(cè)量?jī)x維修故障案例
產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 產(chǎn)品種類(lèi) | 白光測(cè)量機(jī) |
---|---|---|---|
工作方式 | 垂直式 | 工作原理 | 自動(dòng)型 |
價(jià)格區(qū)間 | 100萬(wàn)-200萬(wàn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,生物產(chǎn)業(yè),地礦,能源 |
??怂箍礖EXAGON測(cè)量投影儀維修報(bào)警故障代碼凌肯自動(dòng)化維修三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x,主要品牌如下,德國(guó)蔡司ZEISS、意大利DEA、思瑞SEREIN、??怂箍礖EXAGON、愛(ài)德華AEH、臺(tái)碩檢測(cè)TASO、西卡德CIDEA、愛(ài)測(cè)易AICEYI、科曼尼KOMANIE、日本三豐mitutoyo、Wenzel溫澤、Nikon尼康等。
第十九條開(kāi)展現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試或采樣時(shí),應(yīng)根據(jù)任務(wù)要求制定監(jiān)測(cè)方案或采樣計(jì)劃,明確監(jiān)測(cè)點(diǎn)位,監(jiān)測(cè)項(xiàng)目,監(jiān)測(cè)方法,監(jiān)測(cè)頻次等內(nèi)容,可使用地理信息定位,照相或錄音錄像等輔助手段,保證現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試或采樣過(guò)程客觀,真實(shí)和可追溯。現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試和采樣應(yīng)至少有2名監(jiān)測(cè)人員在場(chǎng),十條應(yīng)根據(jù)相關(guān)監(jiān)測(cè)標(biāo)準(zhǔn)或技術(shù)規(guī)范的要求。
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1.光學(xué)系統(tǒng),投影成像故障。圖像有黑點(diǎn)、成像模糊、成像有暗區(qū)等,這就要求清洗和維護(hù)物鏡、投影屏、表玻璃、會(huì)聚透鏡、反射鏡等。調(diào)整燈絲的燈絲或更換。如果電壓過(guò)低,應(yīng)安裝電壓調(diào)節(jié)器。
2.機(jī)械系統(tǒng),升降傳動(dòng)故障。常見(jiàn)的問(wèn)題有:上下運(yùn)動(dòng)異常響聲,有時(shí)不能升降,變速時(shí)間隙較大。 下面就是詳細(xì)的比較國(guó)產(chǎn)和進(jìn)口三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x的一些參數(shù)和檢測(cè)指標(biāo),進(jìn)口三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x:島津EDX-LE為日本,測(cè)試倉(cāng)為半自動(dòng),國(guó)產(chǎn)三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x:天瑞1800B天瑞2800天瑞EDX-EDX-3000D為中國(guó)國(guó)內(nèi)生產(chǎn)。
3.機(jī)械系統(tǒng),工作臺(tái)故障。常見(jiàn)的故障有非光滑摩擦傳動(dòng)、平穩(wěn)桿怠速、工作臺(tái)運(yùn)動(dòng)噪聲、拋光桿驅(qū)動(dòng)彈跳、工作臺(tái)運(yùn)動(dòng)卡住現(xiàn)象。當(dāng)故障排除時(shí),找出故障的原因,然后適當(dāng)?shù)挠盟?。彈簧可調(diào)整為擰緊螺釘、更換軸承、更換拋光桿、新油、添加潤(rùn)滑油、調(diào)整或更換拋光桿托架等方式解決問(wèn)題。 則說(shuō)明抑制器部分存在一定問(wèn)題,大多數(shù)是操作不當(dāng)引起的,例如:淋洗液或再生液流路堵塞,系統(tǒng)中無(wú)溶液流動(dòng)造成背景電導(dǎo)偏高或使用的電抑制器其電流設(shè)置的太小等,膜被污染后交換容易下降亦會(huì)使背景電導(dǎo)升高,而失效的抑制器在使用時(shí)會(huì)出現(xiàn)背景電導(dǎo)持續(xù)升高的現(xiàn)象。。
4.精密故障。包括X.Y.Z軸的精度不準(zhǔn)確,兩坐標(biāo)測(cè)量精度差,角度值誤差大,不同平面測(cè)量誤差大。處理此類(lèi)故障,應(yīng)注意糾正和調(diào)整。如果想讓圖像測(cè)量三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x出現(xiàn)故障少,平時(shí)就要注意對(duì)三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x進(jìn)行維護(hù)。設(shè)備的存儲(chǔ)環(huán)境是重要的。應(yīng)保持在干燥、干燥、溫度適中的房間內(nèi),避免光學(xué)零件發(fā)霉、金屬零件生銹、灰塵和雜物脫落。光學(xué)表面應(yīng)保持清潔,不要用手觸摸,經(jīng)常清洗。
篩選合格則不拆分,篩選不合格??墒褂梅菣C(jī)械方法分離(如使用能溶解表面處理層而不能溶解本體材料的化學(xué)溶液溶解提取),但卻的確發(fā)生過(guò),二手安捷倫火花三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x[堵"的原因基本就是上面這些了,希望對(duì)你今后的使用有所幫助,PrevICP-OES。ICP-MS,AAS的對(duì)比分析火花直讀三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x的7種故障排除方法個(gè)ICP-OES。
表明原子吸收光譜法仍是微量元素分析的主要方法之一,我們相信,其一定能夠在微量元素形態(tài)分析中發(fā)揮重要的作用,能跟你愉快的的。至少證明是你的目標(biāo)客戶(hù),至于你怎么把他給聊死的,看下面的案例思路,你會(huì)找到答案,這個(gè)案例客戶(hù)從開(kāi)發(fā)到只用了三個(gè)月,原因很簡(jiǎn)單:客戶(hù)找對(duì)了。
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