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[供應(yīng)]ASME標(biāo)準(zhǔn)試片CX4-230 CX4-430磁粉探傷試片

更新時(shí)間:2024-10-19 21:00:07

有效期:2024年10月19日 -- 2025年4月19日

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CX4-230 CX4-430磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)試片屬于美標(biāo)ASME標(biāo)準(zhǔn)試片,試片用于磁粉探傷時(shí)對(duì)幾何形狀復(fù)雜,不同材質(zhì)的工件檢驗(yàn)時(shí),可以正確地選擇磁化規(guī)范,并可檢驗(yàn)探傷設(shè)備、磁粉或磁懸液的性能,在磁粉探傷過(guò)程中,可以避免漏檢,正確地知道探傷工作所需要的電流峰值和方向,并對(duì)顯示缺陷的磁場(chǎng)強(qiáng)度有所估量,是磁粉探傷的調(diào)試工具。

ASME標(biāo)準(zhǔn)試片CX4-230 CX4-430磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)試片


CX4-230 CX4-430磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)試片屬于美標(biāo)ASME標(biāo)準(zhǔn)試片,試片用于磁粉探傷時(shí)對(duì)幾何形狀復(fù)雜,不同材質(zhì)的工件檢驗(yàn)時(shí),可以正確地選擇磁化規(guī)范,并可檢驗(yàn)探傷設(shè)備、磁粉或磁懸液的性能,在磁粉探傷過(guò)程中,可以避免漏檢,正確地知道探傷工作所需要的電流峰值和方向,并對(duì)顯示缺陷的磁場(chǎng)強(qiáng)度有所估量,是磁粉探傷的調(diào)試工具。


ASME標(biāo)準(zhǔn)磁粉試片


CX4-230 靈敏度試片

CX4-430 靈敏度試片

CX-230   靈敏度試片

CX-430   靈敏度試片

使用方法:

選適當(dāng)靈敏度的試片,將刻有槽的一面用膠帶紙緊密地貼在工件上(膠帶紙貼于試片兩邊緣,不要影響試片背面的刻槽部位)。

進(jìn)行外加懸場(chǎng)法,對(duì)工件進(jìn)行磁化,并在試片上澆以磁懸液或噴磁粉(磁化規(guī)范由低檔逐提高,以顯示磁痕為界,既是磁化電流)。

上述步驟完畢后,貼在工件表面上的試片,即可清楚顯示磁痕。

注意事項(xiàng):

1. 試片使用前,用柔軟紙或紗布輕輕地把試片表面的油漬擦去,在用膠帶紙緊密地貼在工件上。

2. 試片用后請(qǐng)涂防銹油。

3. 試片有褶皺不平或破裂,會(huì)影響探傷靈敏度,不宜繼續(xù)使用。

ASME標(biāo)準(zhǔn)試片.jpg




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