C型磁粉靈敏度試片

產(chǎn)品詳情：

C型磁粉靈敏度試片最先由日本無損檢測(cè)學(xué)會(huì)提出，以后為多個(gè)國家使用，主要用于零部件的磁粉探傷，在檢查中，對(duì)幾何形狀復(fù)雜，不同材質(zhì)的工作，可以正確地選擇磁化規(guī)范，并可檢查探傷設(shè)備，磁粉和磁懸液的性能，在磁粉探傷操作過程中，可以避免漏檢，正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向，并對(duì)顯示缺陷的磁場強(qiáng)度有所估量A型靈敏度試片是磁粉探傷工作者常備的調(diào)試工具。

特點(diǎn)如下：

C型標(biāo)準(zhǔn)試片，它分為C1型和C2型，它可以在任何幾何形狀復(fù)雜的工件上探傷，尤其在焊縫的坡口面上及狹小部分，更能顯示它的優(yōu)點(diǎn)。C型標(biāo)準(zhǔn)試片相當(dāng)于A型試片中2#試片的靈敏度等同，它的磁化規(guī)范相當(dāng)于8-10D，并可用作鑒定探傷設(shè)備、磁粉和磁懸液的性能，在磁粉探傷過程中，可以避免誤判或漏檢。C型標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片,是磁粉探傷工作者常備的調(diào)試工具。

性能規(guī)格：

本套試片包括:C1: 8/50u  C2:15/50u  共六片，分兩組不同規(guī)格的試片組成。

使用方法：

選適當(dāng)靈敏度的試片，將刻有槽的一面用膠帶紙緊密地貼在工件上（膠帶紙貼于試片兩邊緣，不要影響試片背面的刻槽部位）。

進(jìn)行外加懸場法，對(duì)工件進(jìn)行磁化，并在試片上澆以磁懸液或噴磁粉（磁化規(guī)范由低檔逐提高，以顯示磁痕為界，既是磁化電流）。

上述步驟完畢后，貼在工件表面上的試片，即可清楚顯示磁痕。

注意事項(xiàng)：

1. 試片使用前，用柔軟紙或紗布輕輕地把試片表面的油漬擦去，在用膠帶紙緊密地貼在工件上。

2. 試片用后請(qǐng)涂防銹油。

3. 試片有褶皺不平或破裂，會(huì)影響探傷靈敏度，不宜繼續(xù)使用。