您好, 歡迎來(lái)到化工儀器網(wǎng)

| 注冊(cè)| 產(chǎn)品展廳| 收藏該商鋪

13585156439

technology

首頁(yè)   >>   技術(shù)文章   >>   激光共聚焦顯微鏡高度測(cè)量原理

南京智聯(lián)光學(xué)科技有限公司

立即詢價(jià)

您提交后,專屬客服將第一時(shí)間為您服務(wù)

激光共聚焦顯微鏡高度測(cè)量原理

閱讀:1827      發(fā)布時(shí)間:2023-10-18
分享:
激光共聚焦顯微鏡(LaserScanningConfocalMicroscope,簡(jiǎn)稱LSCM)是一種高分辨率的顯微鏡技術(shù),可以實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品表面的三維形貌進(jìn)行測(cè)量。其高度測(cè)量原理主要基于激光共聚焦原理和掃描探測(cè)技術(shù)。  
激光共聚焦原理是指通過(guò)將激光束聚焦到樣品表面上的一個(gè)點(diǎn),然后通過(guò)探測(cè)器接收反射回來(lái)的光信號(hào)。在聚焦點(diǎn)附近,只有來(lái)自該點(diǎn)的光信號(hào)能夠通過(guò)一個(gè)小孔進(jìn)入探測(cè)器,其他位置的光信號(hào)會(huì)被屏蔽掉。這樣可以消除樣品表面其他位置的散射光信號(hào),提高圖像的清晰度和對(duì)比度。  
在高度測(cè)量中,激光束被聚焦到樣品表面上的一個(gè)點(diǎn),然后通過(guò)探測(cè)器接收反射回來(lái)的光信號(hào)。當(dāng)樣品表面存在高度差時(shí),反射回來(lái)的光信號(hào)會(huì)發(fā)生相位差,這個(gè)相位差可以用來(lái)計(jì)算樣品表面的高度差。  
為了實(shí)現(xiàn)高度測(cè)量,LSCM通常采用掃描探測(cè)技術(shù)。通過(guò)控制激光束在樣品表面上進(jìn)行掃描,可以獲取到不同位置的光信號(hào)。通過(guò)對(duì)這些光信號(hào)進(jìn)行處理和分析,可以得到樣品表面的三維形貌信息。  
總結(jié)起來(lái),激光共聚焦顯微鏡的高度測(cè)量原理是通過(guò)激光共聚焦原理和掃描探測(cè)技術(shù),利用反射回來(lái)的光信號(hào)的相位差來(lái)計(jì)算樣品表面的高度差。這種原理可以實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品表面的高分辨率三維形貌測(cè)量。

會(huì)員登錄

請(qǐng)輸入賬號(hào)

請(qǐng)輸入密碼

=

請(qǐng)輸驗(yàn)證碼

收藏該商鋪

標(biāo)簽:
保存成功

(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)

常用:

提示

您的留言已提交成功!我們將在第一時(shí)間回復(fù)您~
在線留言