X射線熒光測厚儀 返回列表頁

　 X射線熒光測厚儀是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它特別適用于測量和分析超薄鍍層以及進(jìn)行材料分析。正如所有的FISCHERSCOPEX-RAY儀器一樣，本款儀器有著出色的精確性以及長期的穩(wěn)定性，這樣就顯著減少了校準(zhǔn)儀器所需的時間和精力。

　　XAN500采用*的硅漂移探測器能夠達(dá)到非常高的分析精度及探測靈敏度。依靠FISCHER的*基本參數(shù)法，可以在沒有校驗標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度。

       X射線熒光測厚儀使用XAN500型手持式儀器可以對大型工件以及臺式儀器難以測量的位置進(jìn)行便捷快速的測量。設(shè)計結(jié)構(gòu)的優(yōu)化使得儀器可以唄安全第放置到工件上，無論是鍍層測厚或者材料分析，都可以保證其測量結(jié)果的再現(xiàn)性。同時，儀器可選配便攜式智能箱，使其成為小型的臺式測量設(shè)備，以便檢測小型樣品。

　　菲希爾公司FISCHER品牌的x-ray鍍層厚度檢測及材料分析儀是業(yè)內(nèi)的產(chǎn)品，在全球有著廣泛的客戶和良好的聲譽。FISCHERSCOPEX-RAYXDLM237X射線鍍層厚度測試儀及材料分析儀采用手動或自動方式，測量和分析微小結(jié)構(gòu)的印刷線路板、電氣元件及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層。FISCHERSCOPE®X-RAYXDAL237SDDX射線鍍層厚度測試儀及材料分析RoHs檢測儀，配備可編程運行XY工作臺及Z軸升降系統(tǒng)，全自動測量超薄鍍層厚度和分析材料成分。可按要求，提供額外的XAN500型產(chǎn)品更改和XAN500儀器技術(shù)咨詢