菲希爾測厚儀Feritscope X-RAY XDLM237
x射線熒光鍍層測厚儀德國菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237設(shè)計理念：
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237設(shè)計為界面友好的臺式測量儀器系列，配備了馬達驅(qū)動的X/Y工作臺，當(dāng)保護門開啟時，工作臺會自動移到放置樣品的位置。馬達驅(qū)動的可編程Z軸升降系統(tǒng)。
高分辨率的彩色視頻攝像頭可方便定位測量位置。配備了激光點，可以輔助定位并快速對準測量位置。
測量箱底部的開槽是專為面積大而形狀扁平的樣品所設(shè)計，由此儀器就可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。例如：大型的印制電路板。
帶有放大功能和十字線的集成視頻顯微鏡簡化了樣品擺放，并且允許測量點的調(diào)整。
所有的儀器操作，以及測量數(shù)據(jù)的計算和測量數(shù)據(jù)報表的清晰顯示，都可以通過功能強大而界面友好的WinFTM軟件在電腦上完成。
XDLM237型鍍層測厚及材料分析儀*DIN ISO 3497標(biāo)準和ASTM B 568標(biāo)準，型式許可符合德國“Deutsche Rntgenverordnung-RV"法規(guī)規(guī)定。
為每次測量創(chuàng)造理想的激發(fā)條件，儀器配備可電動調(diào)整的多個準直器和基本濾片。比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率，這樣就可以進行高精度測量。
FISCHERSCOPE-X-RAY XDLM237系統(tǒng)有著出色的性和良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準儀器，節(jié)省時間和精力。
由于采用了基本參數(shù)法，無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品，都能在沒有標(biāo)準片的情況下進行分析和測量。
菲希爾測厚儀Feritscope X-RAY XDLM237
x射線熒光鍍層測厚儀德國菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237參數(shù)規(guī)格：
通用規(guī)格
設(shè)計用途 | 能量色散X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀 (EDXRF) 用來測量薄鍍層和微小結(jié)構(gòu)， 分析合金和微量組分。 |
元素范圍 | 從元素 氯(17) 到 鈾(92) 配有可選的WinFTM BASIC軟件時，zui多可同時測定24種元素 |
形式設(shè)計 | 臺式儀器，測量門向上開啟 |
測量方向 | 從上到下 |
X射線源
X射線管 | 帶鈹窗口的微聚焦鎢管 |
高壓 | 三檔： 30 kV，40 kV，50 kV |
孔徑（準直器） 標(biāo)準（523-440） 可選（523-366） 可選（524-061） | 4個可切換準直器 [mm]: 0.1, ?0.2, 0.05x0.05, 0.2x0.03 [mm]: 0.1, ?0.2, ?0.3, 0.3x0.05 [mm]: 0.1, 0.2, 0.3 x 0.05, 0.05x0,05 其他可按要求定制 |
基本濾片 | 3種可切換的基本濾片（標(biāo)準配置：鎳，鋁，無） |
測量點 | 取決于測量距離及使用的準直器大小， 實際的測量點大小與視頻窗口中顯示的測量點大小: 光圈約 0.1 mm（選用準直器0.05x0.05 mm時） |
