菲希爾測厚儀Fischerscope XDL210

菲希爾測厚儀Fischerscope XDL210

XDL 型X 射線光譜儀有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經常校準儀器。XDL 系列儀器特別適用于客戶經行質量控制、進料檢驗和生產流程監(jiān)控。X射線熒光光譜儀，用于對保護和裝飾涂料，量產的零件和印制板上的涂層進行手動或自動厚度測量。菲希爾熒光鍍層分析儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210適合鍍層厚度測量的耐用儀器，即使大測量距離也可以測量（DCM，范圍0-80mm）。配備一個固定的準直器和固定的濾片。適合測量點在1mm以上的應用；跟XUL類似?？蛇x用自動測量的可編程工作臺.

FISCHERSCOPE-X-RAY XDL是一款應用廣泛的能量色散型x 射線光譜儀。它是從大眾認可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型儀器上發(fā)展而來的。與上一代相類似，它尤其適合無損測量鍍層厚度及材料分析，同時還能全自動測量大規(guī)模生產的零部件及印刷線路板。比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率，這樣就可以進行高精度測量。由于采用了Fischer 基本參數(shù)法，無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品，都能在沒有標準片的情況下進行分析和測量。zui多可同時測量從氯（17）到鈾（92）中的24 種元素。

設置FISCHER XRF測量儀器–這就是獲得測量結果的方式：

必須注意細節(jié)：衡量成功與否與每個組成部分都息息相關！

X射線管和陽極材料：

小零件，有大影響！XRF設備的“心臟"，即X射線發(fā)生器，由一個帶有鎢、銠、鉬或鉻陽極的標準或微聚焦射線管組成。這些部件決定了達到哪種測量精度和哪種能譜。

濾波器：

只有必要的東西才能通過：X射線束通過濾波器，以降低相關能量范圍內的背景噪聲，從而對來自僅以低濃度存在的材料的信號實現(xiàn)更高的靈敏度。

孔徑和X射線光學元件：

菲舍爾的聚焦！作為全球僅有的兩家多毛細管光學器件的制造商之一，我們能夠將大部分初級輻射集中在一個微小的測量點上。

探測器：

只有在Fischer，您可以選擇3種不同的探測器類型，以實現(xiàn)測量任務的解決方案：比例計數(shù)管、硅PIN二極管和硅漂移探測器。