X-RAY XDAL 237菲希爾X射線測(cè)厚儀

X-RAY XDAL 237菲希爾X射線測(cè)厚儀

FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型儀器可以用來測(cè)量SnPb焊層中的鉛含量。在這一- 應(yīng)用中，首先要準(zhǔn)確測(cè)量SnPb的厚度以便分析Pb的含量。按照航空航天工業(yè)中高可靠性的要求，為避免裂紋的出現(xiàn)，合金中Pb的含量至少必須在3%以上。另一方面，對(duì)于日常使用的電子產(chǎn)品，根據(jù)RoHS指令要求，Pb在焊料中的含量多不能超過1000ppm.盡管XDAL測(cè)量Pb含量的測(cè)量下限取決于SnPb鍍層的厚度，但是通常情況下XDAL的測(cè)量下限足夠低，可以很輕易達(dá)到以上的測(cè)量需求。菲希爾x射線測(cè)厚儀

菲希爾x射線測(cè)厚儀憑借電機(jī)驅(qū)動(dòng)（可選）與自上而下的測(cè)量方向，XDL系列測(cè)量儀器能夠進(jìn)行自動(dòng)化的批量測(cè)試。提供 X 射線源、濾波器、準(zhǔn)直器以及探測(cè)器不同組合的多種型號(hào)，從而能夠根據(jù)不同的測(cè)量需求選擇適合的 X 射線儀器。在設(shè)計(jì)上，F(xiàn)ISCHERSCOPE XRAY XDAL型儀器和XDLM型儀器相對(duì)應(yīng)。區(qū)別在于使用的探測(cè)器類型不同。在XDAL上，使用了帕爾貼制冷的硅PIN探測(cè)器，從而有了遠(yuǎn)好于XDLM使用的比例計(jì)數(shù)器的能量分辨率。因而，這臺(tái)儀器適合于一般材料分析，痕量元素分析及測(cè)量薄鍍層厚度。

菲希爾XDAL 237測(cè)厚儀

XDAL 237典型應(yīng)用領(lǐng)域：

• 鍍層與合金的材料分析（包括薄鍍層以及低含量）。來料檢驗(yàn)，生產(chǎn)監(jiān)控。

• 研發(fā)項(xiàng)目

• 電子行業(yè)

• 接插件和觸點(diǎn)

• 黃金、珠寶及手表行業(yè)

• 測(cè)量印刷線路板上僅數(shù)個(gè)納米的Au和Pd鍍層

• 痕量分析

• 根據(jù)高可靠性要求測(cè)量鉛Pb含量

• 分析硬質(zhì)鍍層材料

德國Fischer菲希爾漆膜測(cè)厚儀 MP0R兩用涂層測(cè)厚儀 廠家直供

產(chǎn)品簡介：

•用于測(cè)量非鐵磁性金屬涂層，例如鉻、銅、鋅，以及測(cè)量鋼鐵上的涂料、油漆、瓷漆或塑料涂層

•PERMASCOPE® MP0R涂鍍層測(cè)厚儀（采用磁感應(yīng)法，符合 DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 標(biāo)準(zhǔn)）

•該設(shè)備特別適用于對(duì)較薄的涂層進(jìn)行精確測(cè)量