HORIBA SZ-100 V2 納米顆粒分析儀 返回列表頁(yè)

SZ-100 V2 納米顆粒分析儀是準(zhǔn)確測(cè)量小顆粒物理性質(zhì)的分析工具，如顆粒粒徑、zeta電位的檢測(cè)，分子量（Mw）以及第二維利系數(shù)（A2）的測(cè)定；還可以用于檢測(cè)蛋白質(zhì)、聚合物及其他大分子的分子量和第二維利系數(shù)。



SZ-100 V2納米顆粒分析儀典型應(yīng)用包括：納米顆粒，膠體，乳液以及亞微米懸浮液。



產(chǎn)品特點(diǎn)


· 同臺(tái)儀器可測(cè)三種參數(shù)——粒度、zeta電位、分子量及第二維利系數(shù)

· 寬檢測(cè)范圍，寬濃度范圍——樣品濃度可達(dá)40%

· 自動(dòng)滴定儀——可用于zeta電位測(cè)量過(guò)程中pH值的自動(dòng)滴定

· 軟件操作簡(jiǎn)單功能強(qiáng)大，一鍵測(cè)量

· 雙光路雙角度粒徑測(cè)量（90° 和173°）

· 采用微量樣品池

技術(shù)參數(shù)


粒徑測(cè)量原理：動(dòng)態(tài)光散射法（光子相關(guān)光譜法）

粒徑測(cè)定范圍：0.3nm ～10μm

粒徑測(cè)量精度：±2%（NIST 可溯源標(biāo)準(zhǔn)粒子100nm）

Zeta 電位測(cè)量原理：激光多普勒電泳法

Zeta 電位測(cè)量范圍：-500 mV ～ +500 mV

分子量測(cè)量原理：Debye plot

分子量測(cè)量范圍：1000 ～ 2×107 Da

測(cè)量角度：90° 和173°（可自動(dòng)或手動(dòng)選擇）

樣品量：12μL ～ 1000μL