深圳市科時(shí)達(dá)電子科技有限公司
中級(jí)會(huì)員 | 第2年

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FR-pRo 測(cè)厚儀 高分辨率 光學(xué) 膜厚測(cè)量

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更新時(shí)間:2024-11-04 19:43:08瀏覽次數(shù):58次

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高分辨率光學(xué)膜厚測(cè)量FR-pRo測(cè)厚儀干涉儀是利用干涉原理測(cè)量光程之差從而測(cè)定有關(guān)物理量的光學(xué)儀器

高分辨率 光學(xué) 膜厚測(cè)量 FR-pRo 測(cè)厚儀



干涉儀是利用干涉原理測(cè)量光程之差從而測(cè)定有關(guān)物理量的光學(xué)儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會(huì)非常靈敏地導(dǎo)致干涉條紋的移動(dòng),而某一束相干光的光程變化是由它所通過(guò)的幾何路程或介質(zhì)折射率的變化引起,所以通過(guò)干涉條紋的移動(dòng)變化可測(cè)量幾何長(zhǎng)度或折射率的微小改變量,從而測(cè)得與此有關(guān)的其他物理量。測(cè)量精度決定于測(cè)量光程差的精度,干涉條紋每移動(dòng)一個(gè)條紋間距,光程差就改變一個(gè)波長(zhǎng)(~10-7米),所以干涉儀是以光波波長(zhǎng)為單位測(cè)量光程差的,其測(cè)量精度之高是任何其他測(cè)量方法所的。

FR-pRo是模塊化和可擴(kuò)展的測(cè)量?jī)x器系列,可根據(jù)客戶需求量身定制,并且能夠通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)的吸光度/透射率和反射率測(cè)量,以及在溫度和環(huán)境受控環(huán)境下進(jìn)行薄膜表征,在各種不同的應(yīng)用中使用。


應(yīng)用領(lǐng)域:
1、半導(dǎo)體晶片
2、液晶產(chǎn)品(CS,LGP,BIU)
3、微機(jī)電系統(tǒng)
4、光纖產(chǎn)品
5、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)盤(HDD,DVD,CD)
6、材料研究
7、精密加工表面
8、生物醫(yī)學(xué)工程

產(chǎn)品特點(diǎn):

1 、非接觸式測(cè)量:避免物件受損。
2 、可測(cè)多層薄膜厚度,厚度范圍:1nm-3mm。

3、光譜:200-2500nm。
4 、多重視野鏡片:方便物鏡的快速切換。
5、納米級(jí)分辨率:垂直分辨率可以達(dá)0.1nm。
6、高速數(shù)字信號(hào)處理器:實(shí)現(xiàn)測(cè)量?jī)H需幾秒鐘。
7 、掃描儀:閉環(huán)控制系統(tǒng)。
8、工作臺(tái):氣動(dòng)裝置、抗震、抗壓。
9 、測(cè)量軟件:基于windows 操作系統(tǒng)的用戶界面,強(qiáng)大而快速的運(yùn)算


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