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中級(jí)會(huì)員 | 第4年

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FISCHER X射線測(cè)厚儀XDL230產(chǎn)品信息

時(shí)間:2025/5/16閱讀:222
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菲希爾X射線測(cè)厚儀FISCHER XDL230

一、核心測(cè)量技術(shù)

  1. 測(cè)量原理:運(yùn)用 X 射線熒光光譜法,實(shí)現(xiàn)對(duì)鍍層厚度的精準(zhǔn)測(cè)量。

  1. 測(cè)量方式:無損檢測(cè),具備自動(dòng)聚焦功能,保障樣品完整性與測(cè)量準(zhǔn)確性。

  1. 元素測(cè)量范圍:涵蓋 Cl(17) - U(92),最多可同時(shí)測(cè)量 24 種元素、23 層鍍層。

二、硬件性能參數(shù)

  1. 手動(dòng) X/Y 平臺(tái):移動(dòng)范圍≥95x150mm,可用工作臺(tái)面≥420x450mm,滿足多樣品放置與測(cè)量需求。

  1. 電動(dòng) Z 軸:支持手動(dòng) / 自動(dòng)聚焦,移動(dòng)范圍≥140mm,適配不同高度樣品。

  1. DCM 技術(shù):采用測(cè)量距離補(bǔ)償法(DCM),可實(shí)現(xiàn) 80mm 深度的腔體樣品遠(yuǎn)距離對(duì)焦測(cè)量 。

  1. 高壓調(diào)節(jié):可變高壓支持 30KV、40KV、50KV 三檔調(diào)節(jié),靈活應(yīng)對(duì)不同測(cè)試場(chǎng)景。

  1. 準(zhǔn)直器:配備 φ0.3 的圓形準(zhǔn)直器,提升測(cè)量精度。

  1. X 射線探測(cè)器:采用比例接收器,確保信號(hào)穩(wěn)定接收。

  1. 攝像頭:高分辨率 CCD 攝像頭,放大倍數(shù) 40 - 160 倍,便于樣品觀察定位。

三、軟件與數(shù)據(jù)處理

  1. 操作系統(tǒng)與軟件:基于 Windows 7 以上中文操作界面,搭載 WinFTM 專業(yè)測(cè)試軟件,配備連接 PC 和打印機(jī)的 USB 接口。

  1. 統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能:數(shù)據(jù)組集成時(shí)間和日期功能,具備平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、最大值、最小值等統(tǒng)計(jì)計(jì)算;支持公差范圍輸入,可計(jì)算 CP 和 Cpk 值,超范圍自動(dòng)報(bào)警提示。

  1. 校準(zhǔn)與判定:采用基本參數(shù)法,內(nèi)置 12 純?cè)仡l譜庫,實(shí)現(xiàn)無標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn)測(cè)量;具備 MQ 值顯示,用于判斷測(cè)量程式與樣品匹配度,防止誤操作。

四、標(biāo)準(zhǔn)配置與合規(guī)性

  1. 標(biāo)準(zhǔn)片:配備 12 種基準(zhǔn)純?cè)兀ˋg, Cu, Fe, Ni, Zn, Zr, Mo, Sn, W, Au, Pb, Cr)標(biāo)準(zhǔn)片。

  1. 輻射安全:持有環(huán)保部門出具的輻射豁免管理函,符合安全標(biāo)準(zhǔn)。

  1. 計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng):配置 I5 處理器、8G 內(nèi)存、500G 硬盤、19 寸液晶顯示器及彩色噴墨打印機(jī)。

五、工作環(huán)境要求

  1. 溫度范圍:10℃ - 40℃。

  1. 相對(duì)濕度:20% - 80%。

六、關(guān)鍵測(cè)量精度指標(biāo)

  1. 當(dāng)鍍層厚度≥0.5um 時(shí),頂層鍍層測(cè)量精度≤5%,確保測(cè)量結(jié)果可靠性。


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