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FISCHER XULM240菲希爾，XULM特別適合測量細小的部件如連接器，觸點或線，也可以測量印刷線路板上的Au，Ni和Cu鍍層厚度。即使80nm的很薄的金...

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FISCHERSCOPE X-RAY XDL230激光干涉儀，X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，采用手動方式，測量和分析印刷電路板、防護及裝飾性鍍層及大規(guī)模生產(chǎn)...

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FISCHERSCOPE X-RAY XULM240，多用途的鍍層厚度測量儀。無論是薄的還是厚的鍍層（如50 nm Au或100 μmSn）都通過選擇好的高壓濾...

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