FISCHER涂層測厚儀 返回列表頁

FISCHER涂層測厚儀

滿足復(fù)雜需求的X射線熒光分析

FISCHERSCOPE®X射線 XDAL®是 XDL系列中X射線熒光測量儀器。 和它的“小兄弟"一樣，它是從上到下方向測量的，這使得測試形狀奇怪的樣品也變得輕松便捷，為了優(yōu)化您的任務(wù)的測量條件，配有可互換的準(zhǔn)直器和過濾器作為標(biāo)準(zhǔn)配置。

Fischer X射線測厚儀對(duì)測量任務(wù)的要求越高，探測器的類型就越重要！因此FISCHERSCOPE X射線 XDAL提供了3種不同的半導(dǎo)體探測器。

硅PIN二極管是一種中檔檢測器，非常適合在相對(duì)較大的測量區(qū)域內(nèi)測量多個(gè)元素。配備PIN的XDAL通常用于檢查硬質(zhì)材料涂層。

Fischer X射線測厚儀與硅PIN二極管相比，高質(zhì)量的硅漂移檢測器（SDD）具備更好的能量分辨率。如此配備的XDAL光譜儀可用于解決電子行業(yè)中的復(fù)雜測量任務(wù)：例如，測量薄合金層，或非常相似的元素（如金和鉑）的材料分析。這款值得信賴的XRF儀器可用于ENIG和ENEPIG應(yīng)用的質(zhì)量控制

Fischer X射線測厚儀對(duì)于特別棘手的挑戰(zhàn)，F(xiàn)ischer還提供帶有超大探測器表面的SDD。該探測器的優(yōu)勢在于它能夠可靠地測量納米級(jí)的鍍層，并進(jìn)行痕量分析。使用這些XDAL設(shè)備，您可以測試用于高可靠性應(yīng)用的焊料中的鉛含量，從而避免錫須。