Fischerscope X-ray菲希爾測厚儀 返回列表頁

Fischerscope X-ray菲希爾測厚儀

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD全能選手

XDV®-SDD 是一款真正的全能型儀器，特別適用于測量<0.05µm的極薄鍍層和PPM級范圍內(nèi)的材料分析。配備了全新的DPP+和功能強(qiáng)大的硅漂移探測器（SDD），這臺(tái)多功能儀器可以提供出色的測量結(jié)果。

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ

XDV®-μ是專為微小結(jié)構(gòu)樣品的精確鍍層厚度測量和材料分析而開發(fā)。多毛細(xì)管光學(xué)器件和 DPP+ 的相互配合使得它能夠在微米級大小的測量點(diǎn)上也能得到優(yōu)秀的信號(hào)強(qiáng)度，從而進(jìn)行精準(zhǔn)且高重復(fù)性的測量。

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ LD

XDV®-µ LD是業(yè)界優(yōu)質(zhì)的XRF儀器，適用于連接器和電子行業(yè)的鍍層厚度測量和材料分析，特別是對裝配完成的PCB以及形狀復(fù)雜的連接器進(jìn)行測量。在擁有12mm的測量距離時(shí)，仍可以實(shí)現(xiàn)最小的測量點(diǎn)，并具有最高的穩(wěn)定性和信號(hào)強(qiáng)度。體驗(yàn) DPP+ 與多毛細(xì)管光學(xué)系統(tǒng)的結(jié)合帶來的性能提升。