菲希爾X射線測厚儀Fischer X熒光 返回列表頁

菲希爾X射線測厚儀Fischer X熒光

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN215它特別適用于鍍層厚度的無損測量及材料分析。適用于客戶進(jìn)行質(zhì)量控制、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控。

菲希爾X射線測厚儀典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：

•無錫駿展儀器供應(yīng)測量大型工件的鍍層，如：機(jī)械零件和外殼

•在電鍍過程中進(jìn)行移動(dòng)實(shí)時(shí)測量

•對合金材料進(jìn)行移動(dòng)實(shí)時(shí)檢測

無錫駿展儀器有限責(zé)任公司起源于美國,英國,德國和其他地區(qū)的合作伙伴,與全系列的產(chǎn)品資源和服務(wù),光學(xué)儀器、測量儀器、無損檢測、實(shí)驗(yàn)儀器、分析儀器、測量工具測量工具和其他類型的測試設(shè)備,努力為客戶解決快速分析的測量技術(shù)挑戰(zhàn),聯(lián)合提供定制化精密測量和性能分析系統(tǒng)解決方案，有效推動(dòng)企業(yè)實(shí)現(xiàn)既定目標(biāo)。