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西門子緊湊型CPU 6ES7215-1BG40-0XB0現(xiàn)貨供應(yīng)
西門子緊湊型CPU 6ES7215-1BG40-0XB0
測量絕緣電阻
請遵守所使用絕緣測量設(shè)備操作說明中的規(guī)定。
請將其他繞組、繞組內(nèi)置的溫度傳感器和其他內(nèi)裝件、外裝件接地。
如果連接了電源電纜，則請確認(rèn)電纜上不存在電壓。
如果未連接電源電纜，這會減少外設(shè)對測量的影響。
測量繞組相對于發(fā)電機機殼的繞組溫度和絕緣電阻。測量時繞組溫度不應(yīng)超過 40°C。
根據(jù)公式，將測出的絕緣電阻換算成繞組在參考溫度 40°C 時的絕緣電阻。這樣便可以將換算結(jié)果與規(guī)定的低絕緣電阻進行比較。
在施加測量電壓 1 分鐘后讀取絕緣電阻。
測量后使繞組放電，可采用如下措施：
- 將接線端子和接地位連接在一起，直至放電電壓降低到安全值
- 接上連接電纜。
繞組的絕緣電阻極限值
下表給出了不同測量電壓下絕緣電阻的極限值。這些值和 IEC 60034-27-4 或 IEEE 43?2000 提供的建議一致。
列表: 40 °C 時繞組的絕緣電阻
U N | U 測量 | R C |
|---|---|---|
U ≤ 1000 | 500 | ≥ 5 |
1000 ≤ U ≤ 2500 | 500（大 1000） | 100 |
2500 < U ≤ 5000 | 1000（大 2500） | |
5000 < U ≤ 12000 | 2500（大 5000） | |
U > 12000 | 5000（大 10000） |
U N=額定電壓，參見功率銘牌
U 測量 = 直流測量電壓
R C = 參考溫度 40°C 時的低絕緣電阻
以參考溫度進行換算
測量其他繞組溫度超過 40 °C 的絕緣電阻時，需要根據(jù)以下 IEC 60034-27-4 或 IEEE 43?2000 公式以 40 °C 溫度為參考對測量值進行換算。
R C = KT · RT | R C | 以 40°C 溫度為參考換算所得的絕緣電阻 |
K T | 溫度系數(shù)，見下 | |
R T | 測量溫度/繞組溫度 T（單位：°C）時測得的絕緣電阻 | |
K T = (0.5) (40-T)/10 | 40 | 參考溫度（單位：°C） |
10 | 溫度每變化 10 K，絕緣電阻就減半或翻倍 | |
T | 測量溫度/繞組溫度（單位：°C） |
在該公式中，溫度每變化 10 K，絕緣電阻就翻倍或減半。
溫度每上升 10 K，絕緣電阻減少一半。
溫度每下降 10 K，絕緣電阻翻一倍。
繞組溫度大約為 25°C 時低絕緣電阻為 20 MΩ (U ≤ 1000 V)或 300 MΩ (U > 1000 V)。該值適用于相對于接地的整個繞組。測量單個支路時，小值要翻倍。
干燥的新繞組絕緣電阻在 100 至 2000 MΩ 之間，甚至可能更高。如果絕緣電阻接近小值，則可能是潮濕和/或污垢導(dǎo)致。除此之外，繞組大小、額定電壓和其它特性也會影響絕緣電阻，在確定應(yīng)對措施時需要全面加以考慮。
在電機運行期間，繞組的絕緣電阻可能會在環(huán)境因素和運行因素的作用下有所降低。將額定電壓(kV)乘以特定的臨界電阻值可以計算出臨界絕緣電阻。計算出測量時實際繞組溫度下的絕緣電阻值，公式見上表。
測量極化指數(shù)
在 1 分鐘后測量絕緣電阻一次，10 分鐘后再測量一次，以確定極化指數(shù)。
將兩次的測量結(jié)果相除：
極化指數(shù) = R絕緣，10 分鐘 / R絕緣，1 分鐘
測量時間結(jié)束后，多個測量儀器會自動顯示測量值。
絕緣電阻超過 5000 MΩ 時，儀器便不再顯示極化指數(shù)的測量值，因此不再進行評估。
R(10 min) / R(1 min) | 評估 |
|---|---|
≥ 2 | 絕緣狀態(tài)良好 |
< 2 | 取決于絕緣的整體診斷 |
注意 絕緣損毀 繞組達到或低于臨界絕緣電阻時，可能會導(dǎo)致絕緣損毀或電壓擊穿。
|
防冷凝加熱器絕緣電阻的極限值
在 500 V DC 下測量時，防冷凝加熱器相對于電機外殼的絕緣電阻不應(yīng)低于 1 MΩ
打開TIA Portal 工具欄“選項->設(shè)置"。
“常規(guī)>打印設(shè)置"不要勾選"顯示TAB順序"。
CPU 模塊
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