半導體芯片高低溫測試機，制冷加熱循環(huán)器 返回列表頁

半導體芯片高低溫測試機，制冷加熱循環(huán)器

主要用于半導體測試中的溫度測試模擬，具有寬溫度定向和高溫升降，溫度范圍-92℃~250℃，適合各種測試要求.LNEYA致力于解決了電子元器件中溫度控制滯后的問題，超高溫冷卻技術可以直接從300℃冷卻。

半導體芯片高低溫測試機，制冷加熱循環(huán)器

　　無錫冠亞芯片高低溫測試機是針對電子元器件行業(yè)測試所推出的，那么，這類芯片高低溫測試機適用于那些行業(yè)呢？

　　經過無錫冠亞的努力，其開發(fā)生產的芯片高低溫測試機TES-4525、TES-4525W、TES-4555、TES-4555W、TES-45A10、TES-45A10W、TES-45A15、TES-45A25W、TES-45A25、TES-45A25W等型號可以用于中小規(guī)模數字集成電路邏輯功能及靜態(tài)直流參數測試，在微弱電流測試方面有良好的特性；用于二管、三管、VMOS、光電搞合器、可控硅等各種半導體分立器件進行參數測試，測試原理符合國標及軍標要求，功率參數采用300uS脈沖測試，并采用數據、圖形雙重顯示。