會(huì)議伊始，賽默飛中國(guó)區(qū)半導(dǎo)體業(yè)務(wù)高級(jí)商務(wù)總監(jiān)朱雪雁女士發(fā)表了開場(chǎng)致辭，對(duì)與會(huì)者表示熱烈歡迎和祝福。她還分享了在充滿不確定性的環(huán)境中，對(duì)行業(yè)發(fā)展的見解和未來的展望，以及與客戶加深合作、共同發(fā)展的期望。相信風(fēng)雨雷電都是孕育新機(jī)會(huì)和新希望的契機(jī)。

賽默飛EFA業(yè)務(wù)拓展經(jīng)理唐涌耀首先帶來了生動(dòng)精彩的《賽默飛電性失效分析（EFA）解決方案介紹》。報(bào)告專業(yè)細(xì)致地介紹了賽默飛如何實(shí)現(xiàn)從“微米級(jí)-亞微米級(jí)"，到“亞微米級(jí)-納米級(jí)"電性失效定位。并圍繞納米探針（Nanoprober）經(jīng)典失效分析工作流程，結(jié)合實(shí)際案例說明納米探針技術(shù)在制程/工藝改進(jìn)和產(chǎn)品良率提升中的重要作用。

隨后，賽默飛CTS業(yè)務(wù)拓展經(jīng)理荀愛兵分享《CTS靜電測(cè)試產(chǎn)品最新功能介紹》。報(bào)告不但全面系統(tǒng)地講解了ESD合規(guī)測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)方法和解決方案，并且介紹賽默飛CTS產(chǎn)品最新的支持大電流閂鎖測(cè)試的解決方案，該方案可以更好地滿足AI高算力芯片等產(chǎn)品的可靠性測(cè)試需求。

賽默飛TEM業(yè)務(wù)拓展經(jīng)理章春陽博士給大家?guī)砹祟}為《透射電子顯微鏡-助力集成電路的研發(fā)與良率提升》的報(bào)告。其中重點(diǎn)介紹了賽默飛Spectra Ultra透射電子顯微鏡，其快速電壓切換功能可大大節(jié)省穩(wěn)定時(shí)間，快速實(shí)現(xiàn)高電壓到低電壓的切換。與此同時(shí)，先進(jìn)的Ultra-X能譜可確保對(duì)電子束敏感樣品的高質(zhì)量元素分析。

在豐盛的茶歇之后，下半場(chǎng)的第一個(gè)報(bào)告《多束等離子體 FIB - 功率半導(dǎo)體及先進(jìn)封裝失效分析的多面手》由賽默飛PFA高級(jí)商務(wù)拓展經(jīng)理曹瀟瀟帶來。報(bào)告介紹了賽默飛Helios 5 Hydra多離子源等離子體FIB產(chǎn)品以及其應(yīng)用如何幫助客戶應(yīng)對(duì)大數(shù)據(jù)和人工智能領(lǐng)域的芯片失效分析挑戰(zhàn)。報(bào)告引起了客戶的極大興趣和交流討論。

最后，賽默飛PFA業(yè)務(wù)拓展經(jīng)理?xiàng)罹S新為大家?guī)怼毒劢闺x子束電子顯微鏡-TEM制樣技術(shù)的演進(jìn)與展望》的分享。報(bào)告首先深入闡述了TEM樣品制備在半導(dǎo)體失效分析中的重要性，厘清了在樣品制備的6個(gè)步驟中可能出現(xiàn)的問題及應(yīng)對(duì)方式，并且分享了先進(jìn)制樣的方法和案例。同時(shí)，他還以Helios 6 HD和Helios 5 EXL近線FIB為例介紹了賽默飛在自動(dòng)化TEM制樣技術(shù)方面的進(jìn)展。他還解答了賽默飛的智能化樣品制備功能如何幫助解決客戶表面不平整樣品自動(dòng)制樣的問題。